光学薄膜层积体卷筒及其制造方法与系统的制作方法

专利名称：：光学薄膜层积体卷筒及其制造方法与系统的制作方法
技术领域：
：本发明涉及一种包括偏光薄膜的光学薄膜层积体卷筒及其制造方法与系统，该偏光薄膜具有在其上提供的并且被适配为贴合到液晶显示面板的前侧或背侧的粘贴层。更具体地，本发明涉及一种光学薄膜层积体卷筒及其制造方法与系统，其中该光学薄膜层压板用于液晶显示元件的连续制造装置，该系统包括至少读取单元、切口单元、去除单元以及贴合单元，并且该系统被适配为对于依序送入的多个液晶面板中的每一个执行包括以下步骤的处理沿着每条横跨连续带状体的馈送方向定向的线，在正在连续传送以对应于被依序送入的多个液晶面板的光学薄膜的连续带状体中，形成切口达到与连续带状体的总厚度的一部分相对应的切口深度，以便形成多条切口线；将光学薄膜层压板的、在从馈送方向看上去位于上游位置和下游位置的-对位置处的两条相邻切口线之间延伸并且具有与切口深度相对应的厚度的部分从光学薄膜层压板的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；以及将该薄片贴合到对应的-个液晶面板的相对侧中的一侧，其中光学薄膜包括至少偏光合成薄膜和载体薄膜，该偏光合成薄膜包括具有连续的偏光器层和被层压到该连续的偏光器层的相对侧中的至少一侧的保护薄膜的偏光薄膜层压板，该偏光合成薄膜还具有被贴合到该偏光薄膜层压板的相对侧中的至少一侧的粘贴层；该载体薄膜可剥离地贴合到粘贴层，该偏光合成薄膜具有预先定义的有缺陷区域和无缺陷区域，基于其中包含的缺陷的位置或坐标来确定这些区域，并且通过预先检查来检测这些区域；基于偏光合成薄膜的有缺陷区域和无缺陷区域，在光学薄膜的连续带状体上记录了编码信息，以标识要通过连续制造系统的切断单元在光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置，所述编码信息可由连续制造系统的读取单元读取。
背景技术：
：采用具有42英寸的对角屏幕尺寸的宽屏电视机作为示例，如图2所示，其液晶显示元件包括分层的液晶显示面板，该分层的液晶显示面板包括一对矩形形状的玻璃基板，每个矩形形状的玻璃基板具有长度大约540到560mmX宽度大约950到970mmX厚度大约0.7mm(700μm)的尺寸，液晶层具有大约5μm的厚度，具有透明电极、滤色器等，并且夹在玻璃基板之间，如图2所示。液晶显示元件典型地具有通常被称为“偏光板”的偏光薄片11’，其粘贴地贴合到液晶显示元件的前侧(观看侧)和背侧(背光侧)每一例。偏光薄片11’从包括在层压结构的柔性光学薄膜10中的偏光合成薄膜11形成，如在图1的(使用前)部分处的透视图中示出的，从而具有带有长度为520到540mmX宽度为930到950mm的尺寸的矩形形状，如在图1的(使用后)部分处的透视图中示出的。因此，在液晶显示元件中采用的液晶面板本身是具有大约为1.4mm(1400ym)的总厚度的非常薄的结构。要被层压到液晶面板W的、用于形成偏光薄片的光学薄膜层压板10典型地由连续的柔性薄膜的带状体组成，该柔性薄膜包括偏光合成膜11、具有粘贴表面的表面保护膜13、以及载体膜14。偏光薄膜层压板11包括层压在偏光器的相对表面上的保护膜、以及形成在偏光器的要层压到液晶面板W的侧上的丙烯酸粘贴层12。载体薄膜14可剥离的方式7层压到粘贴层12，以提供保护粘贴层12的暴露侧的功能。典型地，通过以下方式制备偏光合成薄膜11使具有大约50到80μm厚度的基于PVA(聚乙烯醇)的薄膜经历使用碘酒的染色处理和联接(cross-linking)处理；基于沿薄膜的长度方向或宽度方向的拉伸，使所获得的基于PVA的薄膜经历定向处理，以便形成具有20到30μm厚度的连续偏光器层，通过粘合剂将保护膜层压到所形成的连续偏光器层的相对表面的一个或每个，并且在偏光器的要层压到液晶面板W的一侧上形成丙烯酸粘贴层12。通常，经常将具有大约40到80μm厚度的透明的基于TAC(三醋酸纤维素)的薄膜用作用于保护偏光器的保护薄膜。在以下描述中，将连续的偏光器层简称为“偏光器”。根据关于“包含液晶显示元件的平板显示元件的偏光薄膜(FPDpolarizingFilms)”的"SEMI(SemiconductorEquipmentandMaterialsInternational)DraftDocument，，中的术语定义，与构成用于液晶显示元件中的光学薄膜的“偏光薄膜和层”相对应的术语被称为“薄膜和层构成偏光薄膜(Filmsandlayercomposingpolarizingfilms)”。因此，在图1的(使用前)部分处的透视图中的偏光合成薄膜11被解释为对应于“薄膜构成偏光薄膜(filmcomposingpolarizingfilm)”，并且在图1的(使用后)部分处的透视图中的偏光薄片11’被解释为对应于“偏光合成薄膜(polarizingcompositefilm)”，从而将术语“偏光薄片”应用于后者、而不是应用通常所称的名称“偏光板”可以是优选的。在以下描述中，包括偏光器、层压在偏光器的相对表面中的一个或两个上的保护薄膜、以及在偏光器的要层压到液晶面板W的一侧上形成的粘贴层的薄膜将被称为“偏光合成薄膜”，并且以矩形形状从偏光合成薄膜形成的通常被称为“偏光板”的薄片将被称为“偏光薄片”。关于偏光合成薄膜11的厚度，偏光器典型地具有大约20到30μm的厚度，并且在偏光器的各相对表面上都层压有两个保护薄膜的情况下，作为结果的层压板的厚度增加大约80到160μm。此外，在偏光器的要层压到液晶面板W的一侧上形成的粘贴层12具有大约10到30μm的厚度，由此偏光合成薄膜11的厚度合计增加到110到220μm。偏光合成薄膜11以以下方式层压到液晶面板W的前侧和背侧的相应的一个偏光轴彼此成90度角。因此，例如，在制造具有42英寸对角线屏幕尺寸的宽屏电视的液晶显示元件时，假设液晶面板本身的厚度是大约1400μm，每个偏光合成薄膜11的厚度在110到220μm的范围内，液晶显示元件具有大约1620到1840μm的总厚度，这仍在2.Omm之内或在2.Omm以下。在该情况下，相对于液晶元件的厚度，液晶面板W的厚度与偏光薄片11’的厚度之比为大约101.5到103。如果使用仅在偏光器的一个表面上层压有保护薄膜并且在偏光器的另一表面上形成有粘贴层12的偏光合成薄膜11，从减少液晶显示元件的厚度的观点出发，可以将偏光合成薄膜11本身的厚度减少至70到140μm，从而将作为结果的液晶显示元件的总厚度减少至1540到1680μm的范围，并且相对于液晶元件的厚度，液晶面板W的厚度与偏光薄片11，的厚度之比将在大约101到102的范围内。用于液晶显示元件的光学薄膜10具有如在图1的(使用前)部分处的透视图中所示的结构。下面将结合光学薄膜10的制造过程来简要描述光学薄膜10的结构。将具有大约60到70μm厚度的表面保护薄膜13的粘贴表面可剥离地层压到无粘贴层的偏光合成薄膜11的表面，并且将载体薄膜14可剥离地层压到在偏光合成薄膜11的、要层压到液晶面板W上的表面上提供的粘贴层12，以便提供保护粘贴层12的功能。典型地，基于PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)的薄膜用于表面保护薄膜13和载体薄膜14每一个。在液晶显示元件8的制造过程期间，载体薄膜14通常充当偏光合成薄膜的承载介质(载体)以及充当用来保护粘贴层12的部件。下文中将具有这种功能的薄膜称为“载体薄膜”。仅作为参考，粘贴层12的厚度在10到30μm的范围内。在制造多个这样的液晶显示元件的过程中，连续传送光学薄膜10的连续带状体，并且沿着横向的线形成多条切口线达到与连续带状体的总厚度的一部分相对应的切口深度，这样的深度到达载体薄膜的内表面，然后，以偏光薄片11’的形式将在从连续带状体的馈送方向看上去位于上游侧和下游侧的两条相邻切口线(例如，通过仅切断偏光合成薄膜11而保留载体薄膜14不切割而定义的线)之间的光学薄膜10中偏光合成薄膜11的部分，并且将所剥离的偏光薄片11’以连续方式层压到正在依序传送的多个液晶面板W之一的一个表面上，表面保护薄膜13和载体薄膜14属于这些薄膜，其起作用为分别保护光学薄膜10的连续带状体中偏光合成薄膜11的非粘贴表面和粘贴表面。表面保护薄膜13和载体薄膜14两者是所谓的“制造过程材料”，所谓的“制造过程材料”在液晶显示元件的制造过程的最后阶段之前要被剥离和除去。在偏光合成薄膜11中，用于保护偏光器的保护薄膜之一可以被由基于环烯的聚合物(cycloolefin-basedpolymer)、基于TAC的聚合物(TAC-basedpolymer)等制成的并且具有光学补偿功能的相位差薄膜(phasedifferencefilm)来替代，并且其还可以被提供为诸如基于TAC的基板之类的透明基板的一层，向该层涂覆/布置诸如基于环烯的聚合物或者基于聚酰亚胺的聚合物之类的聚合物材料并且然后固化。此外，在要将偏光合成薄膜层压到液晶显示元件的背光侧的情况下，可以通过将亮度提升薄膜层压到偏光器的背光侧保护膜来提供附加功能。另外，关于偏光合成薄膜11的结构，已经提出了各种其它变型，诸如，将基于TAC的薄膜层压到偏光器的相对表面之一并且将PET薄膜层压到偏光器的另一表面的技术。用于向包括偏光器和被层压到偏光器的相对表面之一或两个相对表面上的保护薄膜的偏光合成薄膜11°提供用于贴合到液晶面板W的粘贴层12的方法之一包括将在其上形成有可转印的粘贴层的载体薄膜14层压到偏光合成薄膜11°的要层压到液晶面板W的表面上。具体的转印技术如下。在载体薄膜14的制造过程中，载体薄膜在要层压到偏光合成薄膜11°的表面上经过脱膜处理(releasingtreatment)，在偏光合成薄膜11°的要层压到液晶面板W的表面上将所述载体薄膜层压到偏光合成薄膜11°，并且然后将包含粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面上并且烘干，以在载体薄膜14上形成粘贴层。然后，例如，在连续传送从载体薄膜卷筒展开(unroll)的载体薄膜14并且以相同方式传送偏光合成薄膜11°时，将预先形成有粘贴层的载体薄膜14层压到偏光合成薄膜11°，从而可以将在载体薄膜14上形成的粘贴层转印到偏光合成薄膜11°。应理解，可以通过直接将包含溶剂的粘合剂涂覆到偏光合成薄膜11°的要层压到液晶面板的表面上并且对其进行烘干来形成粘贴层12。表面保护薄膜13典型地具有粘贴表面层。与偏光合成薄膜11上的粘贴层不同，在液晶显示元件的制造过程期间，当将表面保护薄膜13的薄片(未示出)从偏光薄片11’剥离时，粘贴表面层必须与表面保护薄膜13的薄片一起从偏光薄片11’剥离。原因在于表面保护薄膜13的薄片被提供用于保护偏光薄片11’的表面，而不是用于将粘贴表面转印到偏光薄片11’的表面上。在图1的(使用后)部分的透视图示出了表面保护薄膜13的薄片被剥离和除去之后的状态。还应注意，无论偏光合成薄膜11是否在其上层压有表面保9护薄膜，都可以在偏光合成薄膜11的前侧上的保护薄膜的表面上向偏光合成薄膜11提供用于保护液晶显示元件的最外表面的硬涂层处理(hardcoattreatment)以及/或者用于获得防眩效果等的表面处理，诸如防眩处理。附带地，对于液晶显示元件的功能，液晶分子的配向方向和偏光器的偏光方向彼此密切相关。在液晶显示元件技术中，使用TN(扭曲向列TwistedNematic)型液晶的IXD(液晶显示器)首先被投入实际使用，然后使用VA(纵向对准verticalalignment)型液晶、IPS(平板开关InplaneSwitching)型液晶等的IXD被投入实际使用。尽管将省略技术上的说明，但是在使用诸如TN型液晶面板的LCD中，在液晶面板的玻璃基板的内表面上具有各自的摩擦方向(rubbingdirection)的上下两片配向薄膜之间提供液晶分子，使得液晶分子沿着光学轴被扭转90度，其中，当施加电压时，液晶分子沿着与配向薄膜垂直的方向排列。然而，在LCD被设计为允许当从显示屏幕的右侧和左侧看时以相同的质量形成图像的情况下，观看侧的配向薄膜上的摩擦方向必须为45度(另一配向薄膜的摩擦方向为135度)。因此，有必要由用于分别通过粘贴层12层压到液晶面板的前侧和后侧的偏光合成薄膜制成的偏光薄片必须具有分别沿相对于显示屏幕的长度方向或宽度方向倾斜45度从而与摩擦方向符合的方向配向的偏光器。因此，如在日本特许公开专利公布JP2003-161935A(专利文献1)或日本专利3616866B(专利文献2)中所描述的，在用于生产TN型液晶面板的液晶元件的光学薄膜中，或者在包括包含通过沿长度方向或宽度方向拉伸而经过配向处理的偏光器、被层压在偏光器上的保护薄膜、以及在要贴合到液晶面板的偏光器侧上形成的粘贴层的偏光合成薄膜的光学薄膜中，需要将光学薄膜冲压或者切割成具有根据TN液晶面板的尺寸确定的并且相对于通过沿长度方向或宽度方向拉伸而生产的偏光器的配向方向倾斜45度的长边或短边的矩形形状的薄片。将光学薄膜冲压或者切割成矩形形状的薄片可以总称为液晶显示元件的“逐片型薄片(individualizedsheet)”或者“用于制造逐片型薄片的方法和系统”。通过以包括保护载体薄膜的形式冲压或者切割而生产如此冲压或切割的光学薄膜的薄片，使得可以防止在光学薄膜中包含的偏光合成薄膜中粘贴层的任何暴露。冲压或切割后的载体薄膜的薄片可以被称为“剥离片”，而不是“载体薄膜的薄片”。因此，液晶显示元件的制造过程包括第一步骤将剥离片从光学薄膜的每个薄片中剥离以使粘贴层暴露。随后，无论是否层压有表面保护薄膜、以及无论表面保护薄膜是否被层压到多个液晶面板中的各个液晶面板，通过例如真空吸引器逐一传送光学薄膜中每一个通过剥离出剥离片而使粘贴层暴露的薄片。根据液晶显示元件的上述制造过程，已经要求冲压或切割后的薄片是具有四个平整的边和一定刚度的逐片型薄片的形式。在液晶显示元件的制造过程历程的初期阶段，具有四个平整的边的该偏光薄片通常被称为“偏光板”，其仍被用作通用名称。在TN型液晶显示元件的制造处理中，从光学薄膜卷筒展开的光学薄膜可以沿着横跨(transverse)传送方向的方向被依序冲压或切割，其结果是在所形成的薄片中包含的偏光薄片也同时以期望的形状形成。然而，在该情况下，不可能通过将通过冲压或切割处理形成的偏光薄片依序层压到多个液晶面板中的各个液晶面板上来简单地获得完成后的液晶显示元件。这是因为利用沿相对于沿长度方向或宽度方向延伸而生产的偏光器的配向方向(即，相对于冲压或切割过程之前的光学薄膜的传送方向)为45度的方向延伸的长边或短边形成的每个偏光薄片，不能以相同姿势依序层压到多个液晶面板的各个液晶面板上。因此，为了通过将从正在传送的光学薄膜的连续带状体中包括的偏光合成薄膜形成的偏光薄片与光学薄膜的连续带状体一起传送至液晶面板的层压位置并且然后将偏光薄片层压到液晶面板上，来提供完成后的液晶显示元件，如在专利文献1或2中所看到的，沿长度方向传送具有比液晶面板的长边更长的宽度的偏光合成薄膜或者包括这样的偏光合成薄膜的光学薄膜，并且以相对于长度方向为45度的倾斜方向，使用模具冲压以制成多个独立的偏光薄片。替代地，可以以通过沿相对于长度方向倾斜45度的方向冲压或切割具有非常宽宽度的光学薄膜形成单个薄片的形式、或者将多个这样的薄片连接成薄膜状结构(film-likeconfiguration)并将该薄膜卷绕以形成偏光合成薄膜卷筒或包括偏光合成薄膜的光学薄膜卷筒，来提供细长的偏光合成薄膜，然后在形成偏光薄片的过程中通过从卷筒展开偏光合成薄膜或者包括偏光合成薄膜的光学薄膜、并且将其切割成所需尺寸以形成多个偏光薄片或者多个光学薄膜薄片、所述多个偏光薄片或者多个光学薄膜薄片每一个然后被层压到正在依序传送的多个液晶面板W的各个液晶面板上，来使用所述细长的偏光合成薄膜，以便完成液晶显示元件。无论如何，以上技术没有超出用于制造逐片型薄片的系统的范围。在VA型液晶和IPS型液晶投入实际使用之前，日本专利公开第62-14810号(专利文献3)已经公开了包括偏光合成薄膜的光学薄膜的连续传送。专利文献3公开了将光学薄膜连续传送到多个液晶面板(在专利文献3中，被称为“液晶单元”)上的技术，该光学薄膜包括偏光合成薄膜(在专利文献3中，被称为“细长的偏光板”)以及用于保护偏光合成薄膜上的粘贴层的剥离片，所述技术用于构成电子计算器等的小尺寸的显示屏幕，其利用剥离片的载体功能，“仅切割偏光板4和粘贴层5，而保留剥离片6未切割(下文中被称为“半切割”)”，在传送过程中除去通过半切割过程形成的偏光薄片的有缺陷薄片(defectivesheet)，并且依序将剩余的偏光薄片层压到多个液晶面板中的各个液晶面板上，而将剥离片剥离仍保留在剥离片上的偏光薄片，以便完成“每个使偏光合成薄膜和液晶单元层压在一起的产品”。该装置可以是所谓的“贴标签单元”。然而，该液晶面板是使用TN型液晶的LCD，从而这里使用的光学薄膜必须是细长的薄片、或者通过将多个这样的光学薄膜薄片连接而形成的薄膜状条带，该细长的薄片是通过沿与具有非常宽宽度的光学薄膜的径向倾斜45度的方向切割光学薄膜而从该光学薄膜生产的，该光学薄膜具有与液晶面板的宽度相对应的宽度。该技术基于使用细长的偏光薄片，该细长的偏光薄片被沿与具有与液晶面板的宽度相对应的宽度的偏光合成薄膜的拉伸方向倾斜45度的方向切割，从而实际上不能直接将其应用于光学薄膜连续传送装置以用于宽屏电视的大尺寸液晶显示元件的连续制造中。关于用于使用逐片型薄片制造液晶显示元件的过程的自动化，下面将总地进行描述。在光学薄膜制造线中从光学薄膜形成的并且预先经过是否存在任何缺陷的检查的多个经检查的逐片型薄片被成组的送入液晶显示元件制造线。通常，所送入的逐片型薄片被手动地存放到偏光薄片库中。所存放的逐片型薄片每一个中的粘贴层具有向其层压的剥离片以保护粘贴层不暴露。存放偏光薄片的库并入液晶显示元件制造线中。提供液晶面板库，其并入相同的制造线中并且存放多个液晶面板，并且多个液晶面板从该液晶面板库中被逐一地取出并且通过清洗/研磨(cleaning/polishing)步骤进行传送。与该液晶面板的传送11同步，通过吸附型传送单元从偏光薄片库中逐一地取出逐片型薄片。通常，通过将剥离片从所取出的逐片型薄片中剥离的步骤。如此取出的逐片型薄片典型地通过剥离剥离片的步骤以暴露出偏光合成薄膜中的粘贴层，被传送到与液晶面板层压的位置，并且以与液晶面板的对准关系(registeredrelation)层压到各个液晶面板，以便连续地生产液晶显示元件。例如，在日本特许公开专利公布第2002-23151A号(专利文献4)中公开了该方法。利用这样的逐片型薄片的制造过程不仅具有必须从自库中取出的各个逐片型薄片中去除剥离片的问题，而且还具有逐片型薄片是柔性的并且在吸附时承载这些逐片型薄片时可能易于弯曲或变形的问题，从而在与液晶面板自动对准和自动层压时在保持精度和速度方面遇到困难。因此，将理解，要求逐片型薄片具有一定厚度和刚度，以便于吸附时的传送和自动层压过程处理。例如，可以将日本特许公开专利公布第2004-144913A号(专利文献5)、日本特许公开专利公布第2005-298208A号(专利文献6)、或日本特许公开专利公布第2006-5841IA号(专利文献7)中的公开内容考虑为解决这样的技术问题的手段。另一方面，VA型液晶面板和IPS型液晶面板没有被设计成以扭转配向来排列液晶分子。因此，在这些类型的液晶面板中，由于液晶分子的配向所固有的视野(field-of-view)特性，不需要如已经在TN型液晶面板中所需的那样使偏光薄片的偏光轴以相对于液晶显示元件的长边或短边的方向45度来配向，但是需要将偏光薄片贴合到液晶显示面板的相对侧并且将它们的偏光轴配向为相交90度交角。然而，在VA型液晶面板和IPS型液晶面板的情况下，关于视角(viewangle)特性，沿着偏光薄片的偏光轴的方向可以获得最大对比度，从而优选的是从视角特性的对称性和可视性的观点出发，偏光薄片具有被沿与液晶面板的径向或横向平行配向的偏光轴。因此，将理解，这些类型的偏光薄片具有以下特征包括已经过径向或横向拉伸的偏光合成薄膜的光学薄膜可以连续地从卷筒中展开并且沿着横线切割，以便依序生产矩形的偏光薄片。还应指出从改进视角特性的观点出发，存在以下趋势对于用于宽屏电视的显示元件的液晶而言，VA型液晶和IPS型液晶比TN型液晶更广泛地被采用。如所描述的，使用TN型液晶的传统显示元件必须使用逐片型薄片来制造。由于生产精度和制造速度两方面的局限，再难以提高该方法的制造效率。考虑到技术开发环境下的这种趋势，已经作出了以下建议诸如在日本特许公开专利公布第2004-361741A号(专利文献8)中描述的技术，其基于使用VA型液晶面板和IPS型液晶面板，并且包括以下步骤连续传送光学薄膜层压板，依照液晶面板的尺寸切割光学薄膜层压板，并且依序将已经通过切割步骤生产的并包含在光学薄膜中的偏光薄膜层压到多个液晶面板中的各个液晶面板上。如后面所述，本发明的目的和构思接近使用在原理上与TN型液晶不同的诸如VA型液晶和IPS型液晶之类的液晶制造液晶显示元件，并且与之密不可分地关联。然而，由于以下技术问题，液晶显示元件的制造的主流技术仍基于利用逐片型薄片的制造技术。在制造液晶显示元件时，关键的技术挑战是检测任何缺陷(如果不检测的话，其将保留在将形成的显示元件中)，并且防止生产出任何有缺陷的产品。这使得可以显著地提高制造成品率。绝大多数的产品缺陷主要由在光学薄膜中包含的偏光合成薄膜中固有的缺陷引起。然而，实际上，在实践中不可能在完全去除了在要层压到一起以形成光学薄膜的各个薄膜中包含的所有缺陷后才提供光学薄膜。原因在于对用于提供在其上没有形成粘贴层的偏光合成薄膜的偏光器以及层压在偏光器上的保护薄膜、以及在偏光合成薄膜上形成的粘贴层全部的观察已经揭示了在偏光合成薄膜的单位长度IOOOm上在20到200个位置中分布多种模式的缺陷，从而，在现有环境下，很难生产无缺陷的光学薄膜。然而，考虑到保持显示元件本身的质量，即使可视的划痕或缺陷较小，也不允许使用具有这样的划痕或缺陷的光学薄膜。设从偏光合成薄膜形成的偏光薄片的长边尺寸为大约lm，如果不能预先去除有缺陷区域，根据简单计算，在1000个液晶显示元件中将生产20到200个有缺陷的产品。因此，在现有环境下，将正常区域定义为如图3中所示的无缺陷区域，并且通过适当地避开在其中具有缺陷的有缺陷区域，从偏光合成薄膜中冲压出或切割出无缺陷的偏光薄片(下文中称为“正常偏光薄片”)。也从偏光合成薄膜中冲压出或切割出有缺陷区域作为有缺陷薄片(下文中称为“有缺陷偏光薄片”)，并且仅仅选择性地去除有缺陷偏光薄片。为了在液晶显示元件制造时解决这些技术问题并且大幅提升产品精度和制造速度，有必要建立用于使得以下一连串过程成为可能的技术手段。要求所述过程包括以下步骤首先传送包括偏光合成薄膜的光学薄膜的连续带状体；定位被作为连续带状体的组成部分传送的偏光合成薄膜中的(多个)缺陷，以便基于缺陷的位置或坐标预先将光学薄膜的区域定义为有缺陷区域和正常区域，并且另外，在例如光学薄膜包括可剥离地层压到偏光合成薄膜的载体薄膜的情况下，在传送光学薄膜的连续带状体的过程期间，横跨连续带状体的传送方向而在连续带状体中形成多条切口线达到直至载体薄膜的内表面的深度，由此，仅仅切割在如沿连续带状体的传送方向看上去的每相邻两个或每对上游侧切口线和下游侧切口线之间的偏光合成薄膜的部分，以便由此形成有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片，自动地仅从正在与光学薄膜的连续带状体一起传送的载体薄膜的上表面去除有缺陷偏光薄片；并且最后剥离正在与光学薄膜的连续带状体一起传送的载体薄膜以便使每个正常偏光薄片的粘贴层暴露，并且自动地将正常偏光薄片层压到正在依序传送的多个液晶面板的对应液晶面板上。替代地，可以向表面保护薄膜提供载体的功能，由此当在光学薄膜中形成切口线时，否则将被保留而不被切割的，载体薄膜可以与偏光合成薄膜一起被切割。然而，在此情况下，载体薄膜被切割为多个薄片(所谓的“剥离片”)，从而有必要提供额外步骤当将正常偏光薄片层压到多个液晶面板中的对应液晶面板时，将剥离片从正常偏光薄片剥离。尽管仍有这样的技术问题，可理解可以使用具有这样的载体功能的表面保护薄膜来替代载体薄膜。该申请的申请人已经提出了偏光合成薄膜或偏光器的预先检查装置，例如，如在日本专利第3974400B号(专利文献9)、日本特许公开专利公布第2005-62165A号(专利文献10)以及第2007-64989A号(专利文献11)中所公开的。这些建议涉及基于使用逐片型薄片的装置，并且主要包括以下两个步骤。第一步骤包括检查正在连续传送的偏光合成薄膜或偏光器中所含的缺陷以通过图像处理确定缺陷的位置或坐标，编码通过图像处理所获得的信息，并且然后直接将编码信息印制在偏光合成薄膜或偏光器的边际或边缘部分(所印制的编码信息将在生产逐片型薄片期间中的后续步骤的冲压或切割偏光合成薄膜或偏光器之后残留在带状体中)，并且将作为结果的偏光合成薄膜或偏光器卷绕以形成卷筒。第二步骤包括将该卷筒并入制造线，使用读取设备读取印制在从卷筒中展开的偏光合成薄膜或偏光器上的编码信息，并且基于缺陷出现的确定结果在缺陷的位置处提供标记，其13后接着随后步骤冲压或切割以便从偏光合成薄膜或偏光器生产逐片型薄片，并且将通过冲压或切割生产的逐片型薄片分类为正常偏光薄片和有缺陷偏光薄片。以上步骤是对于提高制造这样的逐片型薄片的成品率而言必须的技术手段。仅作为参考，在专利文献9或11中，偏光合成薄膜或偏光器被称为“薄片状元件”，并且描述了“例如，偏光合成薄膜、相位差薄膜、用于有机电致发光(EL)元件的塑料薄片、用于液晶单元的塑料薄片、以及用于太阳能电池板的塑料薄片”。在专利文献9或11的图1(a)和1(b)所例示的示例中，薄片状元件包括偏光薄片，其具有偏光器和层压到偏光器的相对表面中的各个相对表面的两个保护薄膜，并且要冲压出或切割出的薄片被称为“产品”。在专利文献10中，偏光合成薄膜或偏光器被称为“偏光板原板”，并且冲压出或切割出的薄片被称为“薄片状产品”。更具体地，专利文献9到11公开了作为第一制造过程的过程，其包括以下步骤使用预先检查设备以检测在“薄片状元件“或“偏光板原板”中存在的缺陷的位置或坐标，以以下方式使用记录设备将编码信息印制到“薄片状元件”或“偏光板原板”上，所述方式使在从“薄片状元件“或“偏光板原板”中冲压出或切割出“产品”或“薄片状产品”时通过读取设备可以读取该编码信息；并且形成作为结果的“薄片状元件“或“偏光板原板”的卷筒体。除了第一制造过程，专利文献9到11还公开了使用卷筒体的“薄片状元件“或“偏光板原板”的第二制造过程。第二制造过程包括以下步骤基于预先印制在“薄片状元件“或“偏光板原板”上并由读取设备读取的编码信息，直接对“薄片状元件“或“偏光板原板”的缺陷的位置或坐标作出标记；冲压或切割正在从卷筒体传送出的“薄片状元件“或“偏光板原板”；并且允许将从“薄片状元件”或“偏光板原板”冲压出或切割出的“产品”或“薄片状产品”分类为正常产品和有缺陷产品。应注意，在传统技术和使用具有层压结构的光学薄膜的卷筒的过程之间的周围环境存在明显区别，在传统技术中，预先形成层压到多个液晶面板中各个液晶面板的多个逐片型薄片，而在使用具有层压结构的光学薄膜的卷筒的过程中，传送光学薄膜的连续带状体以便对应于正在依序传送的多个液晶面板，该带状体被沿着多条切口线切开以便仅将包括粘贴层的偏光合成薄膜切割成预定尺寸而保留载体薄膜未被切割，从而以如下方式形成要层压到液晶面板的前表面或后表面各个表面上的多个偏光薄片，所述方式为当沿着传送方向配向偏光薄片和液晶面板之一的偏光方向时，相对于传送方向为90度来配向另一个的偏光方向。在连续制造多个液晶显示元件的过程中，当连续形成多个偏光薄片时，需要提供附加的技术手段当从光学薄膜的卷筒连续地展开光学薄膜的连续带状体时(所述光学薄膜为层压结构的形式并且包括作为层压板的组成部分的偏光合成薄膜)，识别已经基于偏光合成薄膜中缺陷的定位或坐标位置而预先确定的有缺陷区域并定义有缺陷薄片，并且然后自动地去除有缺陷偏光薄片。除非在正在传送光学薄膜的连续带状体的同时自动地去除有缺陷偏光薄片，否则将不可避免地中断包括偏光合成薄膜的光学薄膜的连续带状体的传送。如果为了避免光学薄膜的连续带状体传送的中断而照原样保留偏光合成薄膜的有缺陷区域，则变得难以避免形成有缺陷液晶元件，从而即使可以保持制造速度，也被迫牺牲产品成品率(productyield)。这是本发明要解决的技术问题之一。申请人:已经通过日本特许公开专利公布第2007-140046A号(专利文献12)提出14了一种制造方法，其中，在检查光学薄膜中的偏光合成薄膜是否存在缺陷之前，从层压结构形式的光学薄膜的卷筒中连续地展开光学薄膜(在专利文献12中被称为“偏光板原板”)，从光学薄膜的层压板中剥离载体薄膜(在专利文献12中被称为“可剥离的薄膜”)，然后在检查之后，绕开缺陷的位置冲压或切割偏光合成薄膜，同时将缺陷保留在带状体上，以便仅由偏光合成薄膜的无缺陷区域提供矩形薄片以生产正常偏光薄片(在专利文献12中被称为“薄片状产品”)，通过利用另一载体介质将该正常偏光薄片传送到层压位置。然而，应注意，该过程不是使得可以通过利用光学薄膜的连续带状体仅将所生产的正常偏光薄片传送到用于与液晶面板层压的位置的过程。应提及，该技术没有超出逐片型薄片制造系统的范围。申请人:还已经通过日本专利申请第2007-266200号公开了涉及如图4所示的用于将光学薄膜层压到液晶面板的方法和装置的发明。该发明是包括以下步骤的用于制造液晶显示元件的方法和装置。首先，该方法包括以下步骤剥离被提供来保护光学薄膜所含的偏光合成薄膜的粘贴层的第一载体薄膜。该方法还包括以下步骤预先检查通过剥离该第一载体薄膜而使粘贴层暴露的偏光合成薄膜中的缺陷，并且然后传送第二载体薄膜并且将第二载体薄膜可剥离地层压到偏光合成薄膜的已暴露的粘贴层以便提供对粘贴层的保护，从而保持包含偏光合成薄膜的光学薄膜的连续带状体。然后，该方法还包括以下步骤沿着横跨连续带状体的传送方向的方向在光学薄膜的连续带状体中形成多条切口线，根据如通过检查在偏光合成薄膜中是否存在缺陷的结果所确定的偏光合成薄膜中含有缺陷的有缺陷区域以及偏光合成薄膜中无缺陷-正常区域来确定切口线的位置，切口线被形成至到达第二载体薄膜的内表面的深度，由此在沿着传送方向位于上游侧和下游侧的径向相邻的相应的切口线之间定义有缺陷偏光薄片和正常无缺陷偏光薄片，在有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片到达用于层压到正在依序传送的多个液晶面板中各个液晶面板的位置之前，从第二载体薄膜中仅自动去除有缺陷偏光薄片，由此仅将保留在第二载体薄膜上的正常偏光薄片传送到用于与液晶面板层压的层压位置。最后，该方法包括以下步骤将正常偏光薄片从第二载体薄膜中剥离，并且将每个剥离的正常偏光薄片层压到每个液晶面板的相对表面之一上。该发明包含创新性的建议允许将被设计来预先形成多个逐片型薄片并且将逐片型薄片分别层压到多个液晶面板的各个液晶面板的逐片型薄片制造系统转换为被设计来连续形成多个连续型(serial-type)偏光薄片并且分别将连续型偏光薄片层压到多个液晶面板的各个液晶面板的连续型偏光薄片制造系统。上述发明的技术挑战在于如何实现以下技术手段其用于在传送方向的上游侧和下游侧之间的两个分离位置处横跨连续带状体的传送方向而在光学薄膜的连续带状体中形成多条切口线至达到第二载体薄膜的内表面的深度，以便在被保留未切割的第二载体薄膜上形成分别对应于偏光合成薄膜中的预先定义的有缺陷区域和正常区域的有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片，并且自动从第二载体薄膜中仅去除有缺陷偏光薄片。最后，通过提供以下步骤来解决所述技术挑战对于用于定义有缺陷区域和正常区域的预先检察的准备而言，从载体薄膜和/或被采用作为临时过程材料而用于液晶显示元件的生产中的表面保护薄膜中分离光学薄膜的连续带状体，并且在预先检查之后，再次将替代载体薄膜和/或替代表面保护薄膜层压到光学薄膜的连续带状体上。在液晶显示元件的制造过程期间，这些步骤对于保护偏光合成薄膜的粘贴层和正表面不暴露而言是必须的，然而，这些必要的步15骤不仅造成用于将正常偏光薄片层压到多个液晶面板中的对应液晶面板的整个系统中的很大的复杂程度，而且造成步骤数目的增加以及每个步骤的控制的难度的增加，并且当然造成制造速度的相应降低。基于以上有关发明并且通过深入研究和考虑，已经开发了本发明，以便在液晶显示元件的制造中显著提高产品精度和制造速度，并且大幅提升产品成品率。日本特许公开专利公布2003-161935A日本专利第3616866B号日本专利特许公开62-14810日本特许公开专利公布2002-23151A日本特许公开专利公布2004-144913A日本特许公开专利公布2005-298208A日本特许公开专利公布2006-5841IA日本特许公开专利公布2004-361741A日本特许公开专利公布3974400B日本特许公开专利公布2005-62165A日本特许公开专利公布2007-64989A专利文献1专利文献2专利文献3专利文献4专利文献5专利文献6专利文献7专利文献8专利文献9专利文献10专利文献11专利文献1
发明内容本发明要解决的技术问题如上所述，与考虑液晶配向固有的观看角度特性而被要求用于将两个偏光薄片分别层压到液晶面板的前表面和后表面中的相应表面并且每个偏光薄片的偏光轴与液晶显示元件的长边或短边的方向倾斜45度地配向的TN型液晶面板不同，在VA型液晶面板和IPS型液晶面板的情况下，仅需要将两个偏光薄片层压到液晶面板的前侧和背侧的相应侧并且偏光轴彼此相交90度，从而通过从自光学薄膜的卷筒展开的光学薄膜的连续带状体中连续地形成多个无缺陷的偏光薄片、并且依序将无缺陷的偏光薄片层压到多个液晶面板中各个液晶面板，在液晶显示元件的制造中可以获得提高的产品精度和制造速度、以及显著提升的产品成品率。本发明提供用于液晶显示元件的连续制造方法和系统的光学薄膜层积体卷筒，其中该连续制造方法和系统被配置为在施加张力的情况下从该卷筒上展开光学薄膜的连续带状体，在传送方向中多对上游位置和下游位置处沿着横跨连续带状体的传送方向的方向在展开的光学薄膜的连续带状体中形成多条切口线至达到光学薄膜层压板中载体薄膜的内表面的深度，以便在保留未被切口线切割的载体薄膜上形成与偏光合成薄膜中有缺陷区域相对应的有缺陷偏光薄片以及与无缺陷或正常区域相对应的无缺陷的正常偏光薄片，每个薄片具有适于层压到多个液晶面板中每个液晶面板的尺寸，通过以可剥离的方式将这些薄片保持在载体薄膜上来利用载体薄膜传送这些薄片，并且在此时自动去除有缺陷偏光薄片以便允许仅将正常偏光薄片传送到用于与多个液晶面板中各个液晶面板层压的位置，剥离载体薄膜并且将正常偏光薄片与多个液晶面板中的相应液晶面板对准，如后面所描述的。具体地，本发明的目的在于提供一部件，用于无中断地传送包括偏光合成薄膜的柔性光学薄膜的连续带状体并且形成与基于在具有用于贴合到液晶面板的粘贴层的偏光合成薄膜中存在的缺陷而在偏光合成薄膜中预先确定的有缺陷区域和正常区域分别对应的有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片；以及去除部件，用于在将正常偏光薄片层压到多个液晶面板中各个液晶面板之前预先去除有缺陷偏光薄片，从而实现包括偏光合成薄膜的光学薄膜的连续带状体的无中断供应。这使得在液晶显示元件的制造中可以显著地提高产品精度和制造速度，并且大幅提升产品成品率。应注意，存在以下情况在制造过程期间，将表面保护薄膜用作用于进一步保护被采用来保护偏光器的保护薄膜的过程材料。在这样的情况下，可以将表面保护薄膜配置为具备载体功能，从而通过表面保护薄膜传送通过在切口线处切割而生产的偏光薄片。在此情况下，以可剥离方式层压在偏光合成薄膜的粘贴层上的载体薄膜也与具有粘贴层的偏光合成薄膜一起被沿着切口线切割，以便形成多个偏光薄片，从而有必要提供附加的技术手段，以便在每个偏光薄片被层压在多个液晶面板中相应的一个液晶面板时将被称为剥离片的载体薄膜的薄片从各相应的偏光薄片中分离出来。解决问题的手段本发明基于以下发现可以通过被适配用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层积体卷筒来实现前述技术问题的解决方案，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向以与连续带状体的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续带状体中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到多个液晶面板中对应液晶面板的相对侧之一，其中，光学薄膜包括偏光合成薄膜和以可剥离方式层压到偏光合成薄膜的粘贴层上的载体薄膜，该偏光合成薄膜包含由偏光器的连续层和层压在偏光器的连续层的相对表面中至少一个的保护薄膜构成的层压板以及在该层压板的相对表面之一上提供的粘贴层，并且其中偏光合成薄膜具有有缺陷区域和无缺陷_正常区域，已经基于在偏光合成薄膜中存在的并且通过预先检查检测到的缺陷的定位或坐标位置预先定义了有缺陷区域和无缺陷_正常区域，光学薄膜的连续带状体在其上记录有编码信息，该编码信息包括用于基于偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域而指定通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续带状体中形成各个切口线的位置的切口位置信息，编码信息可由连续制造系统的读取单元读取，并且基于前述发现，本发明具有以下特征。权利要求1所定义的发明提供了一种光学膜的层积体卷筒，该层积体卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造装置至少具有读取装置、切断装置、排除装置及贴合装置，所述连续制造装置用于相对于依次送来的所述多个液晶面板分别执行如下工序:将与依次搬送的多个液晶面板对应而连续传送的、具有与所述液晶面板的长边或短边对应的宽度的光学膜的连续带状体，沿相对所述带状体的输送方向成直角方向的线进行切割至该带状体厚度的一部分的切口深度而形成切口线，从输送方向看，将位于在上游侧和下游侧的两个部位形成的切口线之间的所述光学膜的所述带状体的与所述切口深度相当的部17分，自剩下的部分剥离而形成光学膜的板片，并将该板片与所述液晶面板的一侧贴合，所述光学膜的层积体卷筒的特征在于，所述光学膜至少包含包含层积体和设置于该层积体的一个面上的粘贴层的偏光膜，其中，该层积体由偏光片的连续层和层积于该偏光片的连续层的至少一面的保护膜构成；以及自由剥离地层积于所述粘贴层的载体膜，在所述偏光膜上，基于由预先检查而检测到的内在缺陷的位置或坐标，事先确定偏光膜的不良区域和正常区域，在所述光学膜的所述带状体上记录有包含切口位置信息的编码信息，该切口位置信息基于所述偏光膜的不良区域和正常区域，指定利用所述连续制造装置的切断装置在所述光学膜的所述带状体上应该形成所述切口线的位置，所述编码信息构成为能够利用所述连续制造装置的读取装置进行读取。权利要求2所定义的发明提供了一种光学膜的层积体卷筒，其特征在于包括权利要求1所提出的特征，所述编码信息还包含用于识别所述偏光膜的不良区域和正常区域的信息。权利要求3所定义的发明提供了一种光学膜的层积体卷筒，其特征在于包括权利要求1或2所提出的特征，在所述光学膜上，在自由剥离地层积有所述载体膜的所述偏光膜的另一面上，进一步自由剥离地层积有具有粘贴面的表面保护膜。权利要求4所定义的发明提供了一种光学膜的层积体卷筒，其特征在于包括在前权利要求1至3中任一项所提出的特征，所述编码信息记录于所述载体膜或所述表面保护膜中的任一方。权利要求5所定义的发明提供了一种制造光学膜的层积体卷筒的方法，该光学膜的层积体卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造装置至少具有读取装置、切断装置、排除装置及贴合装置，所述连续制造装置用于相对于依次送来的所述多个液晶面板分别执行如下工序将与依次搬送的多个液晶面板对应而连续传送的、具有与所述液晶面板的长边或短边对应的宽度的光学膜的连续带状体，沿相对所述带状体的输送方向成直角方向的线进行切割至该带状体厚度的一部分的切口深度而形成切口线，从输送方向看，将位于在上游侧和下游侧的两个部位形成的切口线之间的所述光学膜的所述带状体的与所述切口深度相当的部分，自剩下的部分剥离而形成光学膜的板片，并将该板片与所述液晶面板的一侧贴合，所述方法的特征在于，包含如下步骤(a)在自偏光片的连续层的卷简体供给的所述偏光片的连续层的至少一面上，层积自保护膜的卷筒体供给的所述保护膜，从而生成偏光膜的步骤；(b)检查生成的所述偏光膜的表面及内部，以检测所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标的步骤；(c)将自载体膜的卷筒体供给的所述载体膜自由剥离地层积于已检测内在的所述缺陷的位置或坐标的所述偏光膜，从而生成所述光学膜的所述带状体的步骤；(d)基于检测到的所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标，确定所述偏光膜上的不良区域和正常区域，并基于不良区域和正常区域，生成包含切口位置信息的编码信息的步骤，该切口位置信息指定利用所述连续制造装置的切断装置在所述光学膜的所述带状体上应该形成所述切口线的位置；(e)将生成的所述编码信息以能够利用所述连续制造装置的读取装置进行读取的方式记录于所述光学膜的所述带状体的步骤；(f)在将所述编码信息记录于所述光学膜的所述带状体后，将所述光学膜的所述带状体卷绕成卷筒状，从而生成所述光学膜的层积体卷筒的步骤。权利要求6所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求5所提出的特征，所述编码信息还包含用于识别所述偏光膜的不良区域和正常区域的信息。权利要求7所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求5或6所提出的特征，生成所述光学膜的所述带状体的所述步骤还包含在自由剥离地层积有所述载体膜的所述偏光膜的另一面上，自由剥离地层积具有粘贴面的表面保护膜的步骤。权利要求8所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求5至7中任一项所提出的特征，所述编码信息记录于所述载体膜或所述表面保护膜中的任一方。权利要求9所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求5至8中任一项所提出的特征，在所述载体膜上设有能够转印的粘贴层，在对所述载体膜的一面施加脱模处理后，涂敷含有粘接剂的溶剂并使该溶剂干燥，从而形成所述粘贴层。权利要求10所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求5至9中任一项所提出的特征，检测所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标的所述步骤包含利用反射光主要检查所述偏光膜的表面的第一检查步骤、和通过透射或正交偏光透射主要检查所述偏光膜的内部的第二检查步骤。权利要求11所定义的发明提供了一种制造光学膜的层积体卷筒的方法，该光学膜的层积体卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造装置至少具有读取装置、切断装置、排除装置及贴合装置，所述连续制造装置用于相对于依次送来的所述多个液晶面板分别执行如下工序将与依次搬送的多个液晶面板对应而连续传送的、具有与所述液晶面板的长边或短边对应的宽度的光学膜的连续带状体，沿相对所述带状体的输送方向成直角方向的线进行切割至该带状体厚度的一部分的切口深度而形成切口线，从输送方向看，将位于在上游侧和下游侧的两个部位形成的切口线之间的所述光学膜的所述带状体的与所述切口深度相当的部分，自剩下的部分剥离而形成光学膜的板片，并将该板片与所述液晶面板的一侧贴合，所述方法的特征在于，包含如下步骤(a)准备至少包含偏光膜和临时载体膜的临时光学膜的层积体卷筒的步骤，其中该偏光膜包含层积体及设置于该层积体的一个面上的粘贴层，所述层积体由偏光片的连续层和层积于该偏光片的连续层的至少一面的保护膜构成，所述临时载体膜自由剥离地层积于所述粘贴层；(b)从已准备的所述临时光学膜的所述层积体卷筒供给所述临时光学膜，自被供给的所述临时光学膜卷绕除去所述临时载体膜，从而使包含所述粘贴层的所述偏光膜以露出状态供给的步骤；(c)检查以露出状态供给的包含所述粘贴层的所述偏光膜的表面及内部，以检测包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标的步骤；(d)在检测包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标后，将自载体膜的卷筒体供给的所述载体膜经由所述粘贴层自由剥离地层积于包含所述粘贴层的所述偏光膜，从而生成所述光学膜的所述带状体的步骤；(e)基于包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标，确定包含所述粘贴层的所述偏光膜上的不良区域和正常区域，并基于不良区域和正常区域，生成包含切口位置信息的编码信息的步骤，该切口位置信息指定利用所述连续制造装置的切断装置在所述光学膜的所述带状体上应该形成所述切口线的位置；(f)将生成的所述编码信息以能够利用所述连续制造装置的读取装置进行读取的方式记录于所述光学膜的所述带状体的步骤；(g)在将所述编码信息记录于所述光学膜的所述带状体后，将所述光学膜的所述带状体卷绕成卷筒状，从而生成所述光学膜的层积体卷筒的步骤。权利要求12所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11所提出的特征，所19述编码信息还包含用于识别所述偏光膜的不良区域和正常区域的信息。权利要求13所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11或12所提出的特征，生成所述光学膜的所述带状体的步骤还包含在所述粘贴层上自由剥离地层积有所述载体膜的所述偏光膜的另一面上，自由剥离地层积具有粘贴面的表面保护膜的步骤。权利要求14所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11至13中任一项所提出的特征，所述编码信息记录于所述载体膜或所述表面保护膜中的任一方。权利要求15所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11至14中任一项所提出的特征，在所述临时载体膜上设有能够转印的粘贴层，在对所述临时载体膜的一面施加脱模处理后，涂敷含有粘接剂的溶剂并使该溶剂干燥，从而形成所述粘贴层。权利要求16所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11至15中任一项所提出的特征，对所述载体膜的、自由剥离地层积于以露出状态供给的包含所述粘贴层的所述偏光膜的面仅施加脱模处理。权利要求17所定义的发明提供了一种方法，其包括权利要求11至16中任一项所提出的特征，检测包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标的步骤包含利用反射光主要检查包含所述粘贴层的所述偏光膜的不存在所述粘贴层的面的第一检查步骤、和通过透射或正交偏光透射主要检查包含所述粘贴层的所述偏光膜的内部的第二检查步骤。权利要求18所定义的发明提供了一种制造光学膜的层积体卷筒的装置，该光学膜的层积体卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造装置至少具有读取装置、切断装置、排除装置及贴合装置，所述连续制造装置用于相对于依次送来的所述多个液晶面板分别执行如下工序将与依次搬送的多个液晶面板对应而连续传送的、具有与所述液晶面板的长边或短边对应的宽度的光学膜的连续带状体，沿相对所述带状体的输送方向成直角方向的线进行切割至该带状体厚度的一部分的切口深度而形成切口线，从输送方向看，将位于在上游侧和下游侧的两个部位形成的切口线之间的所述光学膜的所述带状体的与所述切口深度相当的部分，自剩下的部分剥离而形成光学膜的板片，并将该板片与所述液晶面板的一侧贴合，所述制造光学膜的层积体卷筒的装置的特征在于，包括(a)偏光膜生成装置，其在自偏光片的连续层的卷筒体供给的所述偏光片的连续层的至少一面上，层积自保护膜的卷筒体供给的所述保护膜，从而生成偏光膜，该偏光膜生成装置包含将所述偏光片的连续层和所述保护膜贴合的贴合装置；(b)偏光膜检查装置，其检查生成的所述偏光膜的表面及内部，以检测所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标；(c)光学膜生成装置，其将自载体膜的卷筒体供给的所述载体膜自由剥离地层积于已检测内在的所述缺陷的位置或坐标的所述偏光膜，从而生成所述光学膜的所述带状体，该光学膜生成装置包括将所述偏光膜和所述载体膜贴合的贴合装置；(d)信息处理装置，其基于检测到的所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标，确定所述偏光膜上的不良区域和正常区域，并基于不良区域和正常区域，生成包含切口位置信息的编码信息，该切口位置信息指定利用所述连续制造装置的切断装置在所述光学膜的所述带状体上应该形成所述切口线的位置；(e)信息记录装置，其将生成的所述编码信息以能够利用所述连续制造装置的读取装置进行读取的方式记录于所述光学膜的所述带状体；(f)卷绕驱动装置，其在将所述编码信息记录于所述光学膜的所述带状体后，将所述光学膜卷绕成卷筒状，从而生成所述光学膜的所述层积体卷筒；(g)控制装置，其至少使各所述偏光膜生成装置、所述偏光膜检查装置、所述光学膜生成装置、所述信息处理装置、所述信息记录装置及所述卷绕驱动装置连动地进行工作。权利要求19所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求18所提出的特征，所述编码信息还包含用于识别所述偏光膜的不良区域和正常区域的信息。权利要求20所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求18或19所提出的特征，所述光学膜生成装置还包括将所述偏光膜和表面保护膜贴合的贴合装置，其中该贴合装置将具有粘贴面的所述表面保护膜自由剥离地层积于自由剥离地层积有所述载体膜的所述偏光膜的另一面上。权利要求21所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求18至20中任一项所提出的特征，所述编码信息记录于所述载体膜或所述表面保护膜中的任一方。权利要求22所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求18至21中任一项所提出的特征，检测所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标的所述偏光膜检查装置包括利用反射光主要检查所述偏光膜的表面的第一检查装置、和通过透射或正交偏光透射主要检查所述偏光膜的内部的第二检查装置。权利要求23所定义的发明提供了一种制造光学膜的层积体卷筒的装置，该光学膜的层积体卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造装置至少具有读取装置、切断装置、排除装置及贴合装置，所述连续制造装置用于相对于依次送来的所述多个液晶面板分别执行如下工序将与依次搬送的多个液晶面板对应而连续传送的、具有与所述液晶面板的长边或短边对应的宽度的光学膜的连续带状体，沿相对所述带状体的输送方向成直角方向的线进行切割至该带状体厚度的一部分的切口深度而形成切口线，从输送方向看，将位于在上游侧和下游侧的两个部位形成的切口线之间的所述光学膜的所述带状体的与所述切口深度相当的部分，自剩下的部分剥离而形成光学膜的板片，并将该板片与所述液晶面板的一侧贴合，所述制造光学膜的层积体卷筒的装置的特征在于，包括(a)临时光学膜供给装置，其自预先装备有临时光学膜的层积体卷筒的该层积体卷筒供给所述临时光学膜，其中，该临时光学膜至少包含偏光膜和临时载体膜，该偏光膜包含层积体及设置于该层积体的一个面上的粘贴层，所述层积体由偏光片的连续层和层积于该偏光片的连续层的至少一面的保护膜构成，所述临时载体膜自由剥离地层积于所述粘贴层；(b)临时载体膜除去装置，从预先装备的所述临时光学膜的所述层积体卷筒供给所述临时光学膜，该临时载体膜除去装置自被供给的所述临时光学膜卷绕除去所述临时载体膜，使包含所述粘贴层的所述偏光膜以露出状态供给；(c)偏光膜检查装置，其检查以露出状态供给的包含所述粘贴层的所述偏光膜的表面及内部，以检测包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标；(d)光学膜生成装置，其将自载体膜的卷筒体供给的载体膜经由所述粘贴层自由剥离地层积于已检测内在的所述缺陷的位置或坐标的包含所述粘贴层的所述偏光膜，从而生成所述光学膜的所述带状体，该光学膜生成装置包括将具有所述粘贴层的所述偏光膜和所述载体膜贴合的贴合装置；(e)信息处理装置，其基于检测到的包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的所述缺陷的位置或坐标，确定包含所述粘贴层的所述偏光膜上的不良区域和正常区域，并基于不良区域和正常区域，生成包含切口位置信息的编码信息，该切口位置信息指定利用所述连续制造装置的切断装置在所述光学膜的所述带状体上应该形成所述切口线的位置；(f)信息记录装置，其将生成的所述编码信息以能够利用所述连续制造装置的读取装置进行读取的方式记录于所述光学膜的所述带状体；(g)卷绕驱动装置，其在将所述编码信息记录于所述光学膜的所述带状体后，将所述光学膜的所述带状体卷绕成卷筒状，从而生成所述光学膜的所述层积体卷筒；(h)控制装置，其至少使各所述临时光学膜供给装置、所述临时载体膜除去装置、所述偏光膜检查装置、所述光学膜生成装置、所述信息处理装置、所述信息记录装置及所述卷绕驱动装置连动地进行工作。权利要求24所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求23所提出的特征，所述编码信息还包含用于识别所述偏光膜的不良区域和正常区域的信息。权利要求25所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求23或24所提出的特征，所述光学膜生成装置还包括将包含所述粘贴层的所述偏光膜和表面保护膜贴合的贴合装置，其中该贴合装置将具有粘贴面的所述表面保护膜自由剥离地层积于自由剥离地层积有所述载体膜的所述偏光膜的另一面上。权利要求26所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求23至25中任一项所提出的特征，所述编码信息通过所述信息记录装置记录于所述载体膜或所述表面保护膜中的任一方。权利要求27所定义的发明提供了一种装置，其包括权利要求23至26中任一项所提出的特征，检测包含所述粘贴层的所述偏光膜内在的缺陷的位置或坐标的所述检查装置包括利用反射光主要检查包含所述粘贴层的所述偏光膜的不存在所述粘贴层的面的第一检查装置、和通过透射或正交偏光透射主要检查包含所述粘贴层的所述偏光膜的内部的第二检查装置。图1是示出用于制造液晶显示元件的光学薄膜的结构的示意图。图2图示了具有42英寸对角线屏幕尺寸的宽屏电视的液晶显示元件典型示例。图3是示出用于液晶显示元件的光学薄膜中包括存在的缺陷的有缺陷区域和没有缺陷的正常区域的示意图。图4是示出用于连续制造液晶显示元件的系统的概念图，其中，通过检查偏光合成薄膜中的缺陷，将偏光薄片层压在液晶面板上，而不中断正在传送的光学薄膜的连续带状体的传送。图5是示出根据本发明的一个实施例的、液晶显示元件的连续制造系统的概念图，其中，该系统包括光学薄膜传送装置，其用于传送来自光学薄膜层积体卷筒的光学薄膜的连续带状体；以及液晶面板传送装置，其用于传送要与通过在从正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线而切割形成的偏光合成薄膜的正常偏光薄片层压的液晶面板。图6是示出图5中液晶显示元件的连续制造系统中的制造过程或过程步骤的流程图。图7是示出根据该实施例的用于控制在图5中例示的光学薄膜传送装置和液晶面板传送装置的设备的控制单元、和由读取单元读取并且由液晶显示元件的连续制造系统中的信息处理设备处理的编码信息之间的关系的示意图。图8是示出根据该实施例的液晶显示元件的连续制造系统中有缺陷偏光薄片去除单元的示意图，该有缺陷偏光薄片去除单元包括(1)布置在光学薄膜的传送路径中的虚拟薄膜驱动机构，或者(2)被适配为要向着在可彼此更接近和彼此远离的一对层压辊之间的空隙移动以及远离所述空隙移动的虚拟薄膜驱动机构。图9是示出根据该实施例的液晶显示元件的连续制造系统中切片位置检查单元的操作、以及用于检查基于在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成的切口线而测量的关于光学薄膜传送出的长度的测量数据和由读取设备读取的用于形成切口线的位置之间的差别的检查方法的示意图。图10是示出在根据该实施例的液晶显示元件的连续制造系统中，在由读取单元读取在光学薄膜的连续带状体上记录的编码信息并且基于该编码信息控制液晶面板传送装置中的预对准单元、最终对准单元、朝向层压位置定向的传送单元以及面板边缘检测单元以便允许以被控姿势传送液晶面板时的状态的示意图。图11是示出层压单元的示意图，该层压单元包括薄片边缘检测单元，其用于检测从正在传送的光学薄膜的连续带状体形成的偏光合成薄膜的正常偏光薄片的前边缘；以及直线前进姿势(straight-ahead-posture)检测单元，其用于检测与所形成的偏光合成薄膜的正常偏光薄片的传送方向的对准(alignment)。图12是示出根据本发明的第一实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统的示意图。图13是示出根据本发明的第二实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统的示意图。图14是示出根据本发明的第三实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统的示意图。图15是示出图12中所例示的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。图16是示出图13中所例示的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。图17是示出图14中所例示的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。图18是示出计算用于在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线以将偏光合成薄膜的区域分段为有缺陷区域和正常区域的位置的技术的示意图。图19是示出计算用于在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置的技术的流程图。图20是示出计算用于在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置的另一技术的流程图。图21是示出计算用于在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置的又一技术的流程图。图22是示出光学薄膜的位置信息的编码和记录示例的表格。图23是示出在图19中组合标识信息或包括缺陷的信息Xy的技术中，指示用于在光学薄膜中形成切口线的位置的切口位置信息的编码的示例的图。图24是示出在图20中将至下一切口线形成位置的距离修改为(X'+X0)的技术中，指示用于在光学薄膜中形成切口线的位置的切口位置信息的编码的示例的图，其中Xe/23>X00图25是示出在图21中将至下一切口线形成位置的距离修改为[(X'+XtlVm](其中Hl=2)的技术中，指示用于在光学薄膜中形成切口线的位置的切口位置信息的编码的示例的图。图26是示出根据本发明的第二实施例的、具有两个检查单元的光学薄膜层积体卷筒的制造系统的示意图。图27是示出根据本发明的第三实施例的、具有四个检查单元的光学薄膜层积体卷筒的制造系统的示意图。0105]图28是示出缺陷检查设备、缺陷类型以及缺陷检查方法的0106]附图标记的解释0107]1液晶显示元件的连续制造系统0108]10光学薄膜层积体卷筒0109]10，，10”临时光学薄膜层积体卷筒0110]11偏光合成薄膜0111]11°偏光薄膜0112]12粘贴层0113]13表面保护薄膜0114]13，临时表面保护薄膜0115]14载体薄膜0116]14，临时载体薄膜0117]20编码信息0118]100光学薄膜传送装置0119]110支架0120]120读取单元0121]130，170:薄膜传送单元0122]140速度调节单元0123]150切口单元0124]160切口位置检查单元0125]190有缺陷薄片去除单元0126]200层压单元0127]210载体薄膜卷绕驱动机构0128]220边缘检测单元0129]230直线前进姿势(straight-ahead-posture)检测单元0130]300液晶面板传送装置0131]400控制单元0132]410信息处理设备0133]420存储设备0134]500,700,800光学薄膜层积体卷筒的制造系统0135]510偏光器制造线24520:保护薄膜制造线530层压线或临时光学薄膜传送线540薄膜传送驱动机构550测量设备560检查单元570:载体薄膜层压机构571支架572脱模卷绕驱动机构575临时载体薄膜剥离单元576临时载体薄膜卷绕驱动机构580光学薄膜卷绕驱动机构590:图像读取设备600控制单元610信息处理设备620存储设备630:信息记录设备640表面保护薄膜层压机构645临时表面保护薄膜剥离单元646临时表面保护薄膜卷绕驱动机构710临时光学薄膜传送单元720临时载体薄膜卷绕驱动机构730:第一检查单元731第二检查单元740:控制单元741信息处理设备742:存储设备750:载体薄膜传送单元760:载体薄膜层压机构770光学薄膜卷绕驱动机构780:信息记录单元810临时光学薄膜传送单元820临时载体薄膜卷绕驱动机构830临时表面保护薄膜卷绕驱动机构840:第一检查单元850:第二检查单元851:第三检查单元852:第四检查单元860:控制单元861:信息处理设备862:存储设备870临时表面保护薄膜传送单元880:载体薄膜传送单元890:层压机构891:载体薄膜层压机构892表面保护薄膜层压机构910光学薄膜卷绕驱动机构920:信息记录单元具体实施例方式现在将参考附图中所例示的具体实施例来描述本发明。I.液晶显示元件的连续制造系统和方法(液晶显示元件的连续制造系统的总的描述)图5是示出液晶显示元件的连续制造系统1的示意图，其包括光学薄膜传送装置100，其具有用于制造根据本发明的液晶显示元件的光学薄膜层积体卷筒；以及液晶面板传送装置300，其用于传送要与从自该卷筒传送的光学薄膜的连续带状体形成的正常偏光薄片层压的液晶面板。图6是示出图5中所例示的液晶显示元件的连续制造系统1中的制造过程或过程步骤的流程图。光学薄膜传送装置100包括支架110，其用于可旋转地安装将根据本发明的一个实施例的光学薄膜层积体卷筒10；读取单元120，其用于读取编码信息；薄膜传送单元130，其包括传送辊；速度调节单元140，其包括用于提供恒定速度薄膜传送的浮动辊(dancerroller)；切口单元150，其用于以达到载体薄膜的内表面的深度、沿横跨光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向、在连续带状体中形成切口，从而形成切口线；切口位置检查单元160，其用于检查所形成的切口线；薄膜传送单元170，其包括传送辊；速度调节单元180，其包括用于提供恒定速度传送的浮动辊；有缺陷偏光薄片去除单元190，其用于从载体薄膜中剥离并去除所切开的有缺陷偏光薄片；层压单元200，其包括用于将已经从载体薄膜切开并剥离的正常偏光薄片贴合到液晶面板的一对层压辊；载体薄膜卷绕机构210，其用于卷绕载体薄膜；边缘检测单元220，其用于检测层压位置处光学薄膜的前边缘；以及直线前进姿势(straight-ahead-posture)检测单元230，其用于检测与在光学薄膜的连续带状体中通过切口线形成的正常偏光薄片的传送方向的对准。(光学薄膜层积体卷筒10的规定)优选地，安装在光学薄膜传送装置100中的、根据该实施例的光学薄膜层积体卷筒10具有近似等于该光学薄膜所贴合到的液晶面板的长边或短边的长度的宽度。优选地，将透明保护薄膜用于层压在如图1的示意图所示的偏光器的相对表面中一个表面或每个表面上的保护薄膜。光学薄膜层积体卷筒10包括由偏光合成薄膜11、表面保护薄膜13以及载体薄膜14组成的光学薄膜的连续带状体，偏光合成薄膜11包括偏光器，在偏光器的表面上提供有粘贴层12，在粘贴层12上层压有透明保护薄膜并且要贴合到液晶面板上，表面保护薄膜I3具有可剥离地层压到偏光合成薄膜11的与具有粘贴层12的表面相对的表面上的粘贴表面，以及载体薄膜14可剥离地层压在偏光合成薄膜11的粘贴层12上。载体薄26膜14是被适配为在液晶显示元件的制造过程期间保护偏光合成薄膜11的粘贴层12、并且通过当在将偏光薄片贴合到液晶面板的层压过程之前或期间剥离在光学薄膜的连续带状体中形成的偏光薄片时进行卷取而被去除的可剥离薄膜。在该实施例中，使用术语“载体薄膜”，这是因为该薄膜具有将偏光薄膜10中的正常偏光薄片承载到层压位置的功能。如下地形成光学薄膜层积体卷筒10。后面将描述光学薄膜层积体卷筒10的制造方法的细节。在光学薄膜层积体卷筒10的制造过程期间，首先使用检查单元在正在连续传送的光学薄膜的连续带状体中检查偏光合成薄膜11中存在的缺陷。然后，基于所检测的偏光合成薄膜11中缺陷的定位或坐标位置，在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和无缺陷的正常区域，如图3中所示。然后，将包括切口位置信息以及可选的用于标识有缺陷区域和正常区域的标识信息的信息记录在正在连续传送的光学薄膜的连续带状体上。提供切口位置信息以便指示要在光学薄膜的连续带状体中形成多条切口线中各条切口线的位置，并且在液晶显示元件的制造过程期间，以以下方式基于偏光合成薄膜11的有缺陷区域和正常区域通过连续制造系统11的切口单元150成对地形成切口线，所述方式为沿横跨正在传送的光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向切开该连续带状体达到直至载体薄膜的内表面的深度从而在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处形成切口线。要记录在光学薄膜的连续带状体上的、包括切口位置信息和可选标识信息的信息是与诸如关于制造批号(manufacturinglot)和卷筒中连续带状体的长度的信息之类的附加信息一起或相关联地创建的编码信息。优选地，将编码信息记录在要连续传送的光学薄膜的连续带状体中的载体薄膜14上。应理解，可以以多种模式中任一种模式将编码信息记录在载体薄膜14上，所述多种模式诸如其中将包括所有必要信息的编码信息记录在单个定位的模式、或者其中将每个包括不同信息的多个编码信息以给定间隔(例如，以Im或IOOm的间隔)记录在多个存储定位上的模式。替代载体薄膜14，可以将编码信息记录在表面保护薄膜13上。在任一情况下，编码信息被配置为可由连续制造系统1的读取单元120读取。在液晶显示元件的制造过程期间，通过与在编码信息中包括的并由液晶显示元件的连续制造系统1(在其上安装有光学薄膜10的卷筒)的读取单元120读取的切片位置信息相关地、在从光学薄膜10的卷筒中展开光学薄膜的连续带状体时计算光学薄膜传送出的长度(distance)的测量数据，来操作在连续制造系统中提供的切口单元150。由相邻的两个切口线定义的偏光合成薄膜的区域可以包括无缺陷的正常区域，其具有由要与偏光合成薄膜层压的液晶面板的边的长度确定的给定长度；以及有缺陷区域，其具有通常比所述给定长度短的长度。在液晶显示元件的制造过程期间，将利用切口单元150沿着成对的切口线切割的偏光合成薄膜11的有缺陷区域定义为要利用连续制造系统1的有缺陷偏光薄片去除单元190从光学薄膜的连续带状体(具体地，载体薄膜14)中去除的有缺陷偏光薄片X”以相同方式切割偏光合成薄膜11的正常区域，并且将其定义为要从光学薄膜的连续带状体(具体地，载体薄膜14)中剥离并且利用连续制造系统1的层压单元200层压到液晶面板的相对表面之一的正常偏光薄片Xa。在光学薄膜层积体卷筒10的制造过程中，如后面所述地根据偏光合成薄膜11中缺陷的定位或坐标位置预先定义正常区域，并且将正常区域的长度(Xa)确定为根据要与正常偏光薄片层压的液晶面板的一个边的长度的恒定值。类似地，关于有缺陷区域，通过定义如沿着该带状体的传送方向看上去紧接地位于有缺陷区域的上游侧的正常区域的下流侧切口线来定义用于定义有缺陷区域的上游侧切口线。因此，通过上游侧切口线和在缺陷的定位或坐标位置的稍下游的下游侧形成的下流侧切口线来确定有缺陷区域的长度(Xe)。由于有缺陷区域的上游侧切口线和缺陷的定位或坐标位置之间的长度可能不固定，因此，有缺陷区域的长度(Xe)也相应变化。根据一个实施例，当进行用于确定指定要形成切口线的位置的切口位置信息的处理时，通过信息处理确定有缺陷区域的长度(Xe)，使得有缺陷区域的长度(Xe)总是不同于正常区域的长度(Xa)，例如在任何情况下都成立关系Xe<xa。根据另一实施例，当有缺陷区域的长度(X0)变得等于正常区域的长度(Xa)时，可以产生信息Xy来相对于正常区域标识有缺陷区域。在该情况下，将所产生的标识信息Xy与切口位置信息一起或者相关联地并入编码信息中。可以配置连续制造系统1，使得在液晶显示元件的制造过程期间，液晶显示元件的连续制造系统1的切口单元150起作用以根据由连续制造系统1的读取单元120读取的切口位置信息形成正常偏光薄片Xa和有缺陷偏光薄片Xe，并且连续制造系统1的有缺陷偏光薄片去除单元190起作用以容易区分并仅去除具有与正常区域的长度(Xa)不同的长度(Xe)的有缺陷偏光薄片。在编码信息包括用于相对于正常区域标识有缺陷区域的标识信息Xy的情况下，连续制造系统1的有缺陷偏光薄片去除单元190基于该标识信息而起作用以区分并仅去除有缺陷偏光薄片。光学薄膜层积体卷筒10安装在光学薄膜传送装置100的支架110上。优选地，支架110配备有用于确定光学薄膜的连续带状体的传送出的长度的编码器(未示出)，将通过该编码器获得的测量数据存储在控制单元400的存储设备420中。替代地，可以在光学薄膜传送装置100中附加地提供测量设备，以计算光学薄膜的连续带状体的传送出的长度。在整个连续制造系统1的操作中，首先将虚拟薄膜(dummyfilm)的卷筒安装在液晶显示元件的连续制造系统1上。利用第一和第二薄膜传送单元130、170(每个都包括传送辊)在施加张力的情况下从虚拟薄膜的卷筒传送虚拟薄膜的连续带状体。一直传送虚拟薄膜的连续带状体，直到其前边缘到达以下位置为止，在正常操作情况下，在所述位置处，正常偏光薄片Xa被从载体薄膜14剥离，并且从其中剥离了正常偏光薄片的载体薄膜14通过层压单元200并被载体薄膜卷绕机构210卷绕。然后，虚拟薄膜的连续带状体的尾端连接到光学薄膜的连续带状体的前端，并且开始光学薄膜的连续带状体的传送。为了即使在光学薄膜的连续带状体的传送在通过连续制造系统1的切口单元150在偏光合成薄膜中形成切口线的位置处或者在正常偏光薄片Xa层压到液晶面板的层压位置处临时停止时也允许在施加张力的情况下以恒定速度传送光学薄膜的连续带状体，紧接在这些位置之前提供第一和第二速度调节单元140和180，第一和第二速度调节单元140和180每一个包括前述的浮动辊。在液晶显示元件的连续制造系统1中，假设光学薄膜层压板10的单个卷筒包括例如1000米长度的层压板的带状体，并且连续制造系统1的生产能力达到每天5000到20000米的级别，则单个这样的连续制造系统1将操作为在一天中依序与5个到20个光学薄膜层积体卷筒连接。在此情况下，可以说，根据该实施例的使用光学薄膜的卷筒的连续制造系统1使得可以提高产品精度并且使制造速度加倍。如果可以无任何问题地依序传送多个液晶面板W，则要处理的光学薄膜层积体卷筒的数目将显著增加，其导致自动更换光学薄膜层积体卷筒的新的技术需要。(编码信息的读取和信息处理)在该实施例中，紧接在层压单元200之前，将沿光学薄膜的连续带状体中两个相邻切口线切割的偏光合成薄膜11的正常偏光薄片从载体薄膜14中剥离，并且具有暴露的粘贴层12的正常偏光薄片被通过粘贴层12层压到液晶面板。在该过程期间，通过载体薄膜卷绕机构210卷绕载体薄膜14。通常，表面保护薄膜13被制成薄片结构，其与要层压到液晶面板的、偏光合成薄膜11的正常偏光薄片保持在一起，并且在执行包括对要生产的液晶显示元件进行的清洗/干燥的最后步骤之后，剥离并去除表面保护薄膜的薄片。载体薄膜和表面保护薄膜两者都是执行该过程所需的制造过程材料，但是在制造过程的最后阶段中被去除并且被丢弃。因此，根据该实施例的光学薄膜层积体卷筒10的特征之一在于使用这样的制造过程材料作为制造过程必须的信息存储介质。在下文中，将关于仅利用载体薄膜作为用于信息存储介质的制造过程材料的示例单独进行描述。图7是示出要由连续制造系统1的读取单元120读取并且由信息处理设备410处理的编码信息20、和用于控制分别在光学薄膜传送装置100(参见图5)和用于依序传送液晶面板的液晶面板传送装置300(参见图5)中提供的各单元中每个单元的前述控制单元400之间的关系的示意图。然后，记录在光学薄膜层积体卷筒10中的编码信息20包括指示要在光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置的切口位置信息、以及可选的用于相对于正常区域标识有缺陷区域的标识信息。在光学薄膜层积体卷筒10的制造过程期间，连续传送光学薄膜10的连续带状体，并且通过检查单元检测在光学薄膜10的连续带状体中包括的偏光合成薄膜11中存在的缺陷，以便基于所检测的缺陷的定位或坐标位置确定偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域，由此，在液晶显示元件的制造过程期间，基于偏光合成薄膜11的有缺陷区域和正常区域，通过连续制造系统1的切口单元120成对地形成切口线，使得沿横跨光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向在该传送方向的两个相邻位置或者上游和下游位置处切开光学薄膜的连续带状体达到直至载体薄膜的内表面的深度。如图7中所示，编码信息20被记录在光学薄膜的连续带状体上，优选地在载体薄膜上。通过包括代码读取器或CCD照相机之类的读取单元120读取所记录的编码信息20，并且将以此方式读取的编码信息20传送到在连续制造系统1的控制单元中包括的信息处理设备410。如从图5和图6中所例示的每个单元的控制和制造过程流程、以及图7的示意图中清楚的，将通过读取单元120读取的编码信息20传送到信息处理设备410，并且然后信息处理设备410起作用以便适当地处理所接收的编码信息20。控制单元400还可以基于由信息处理设备410处理的编码信息20操作，以便以相互关联的方式系统地控制在液晶面板传送装置300和光学薄膜传送装置100中包括的各单元，诸如切口单元150、有缺陷偏光薄片去除单元190和层压单元200。下面将描述整个系统的控制的概况。基于在所处理的编码信息中包括的切片位置信息，控制单元400起作用为控制包括传送辊的薄膜传送单元130的操作以便传送光学薄膜的连续带状体，并且然后控制第一速度调节单元140的操作以便临时停止光学薄膜的连续带状体的传送。然后，控制单元400起作用为控制切口单元150的操作以便沿横跨光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向、在沿传送方向的两个相邻位置或者上游和下游位置处、在光学薄膜的连续带状体中形成切口达到直至载体薄膜14的内表面的深度，从而在光学薄膜的连续带状体中形成多条切口线。在其上形成有切口线的光学薄膜的连续带状体被传送到切口位置检查单元160，在该切口位置检查单元160中，确认该带状体上的切口线位置。然后，在与包括传送辊的薄膜传送单元170和速度调节单元180相互关联的有缺陷偏光薄片去除单元190处，例如基于长度上的区别，识别或者彼此区分在光学薄膜的连续带状体中通过切口线形成的有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片，并且仅将有缺陷偏光薄片从载体薄膜14剥离和去除。在编码信息包括用于相对于正常偏光薄片标识有缺陷偏光薄片的标识信息的情况下，对于有缺陷偏光薄片去除单元190，基于该标识信息，可以从载体薄膜14中仅剥离和去除有缺陷偏光薄片。然后，与正在依序传送的液晶面板的传送同步地，通过载体薄膜卷绕机构210传送从其中去除了有缺陷偏光薄片的光学薄膜的连续带状体。在由偏光合成薄膜中的切口线定义的正常偏光薄片的前边缘到达所传送的液晶面板的前边缘的位置处卷绕载体薄膜14，其中剥离正常偏光薄片，并且包括一对层压辊的层压单元200开始层压操作以将正常偏光薄片贴合到多个液晶面板中对应液晶面板。现在将关于包括用于将正常偏光薄片贴合到多个液晶面板中对应的一个液晶面板的层压单元200的层压操作的、由控制单元400操作的各单元的具体操作来描述液晶显示元件的制造过程。(有缺陷偏光薄片的去除)有缺陷偏光薄片去除单元190在控制单元400的控制下操作，以便从载体薄膜14(在该载体薄膜14上以可剥离的方式将由切口线形成的偏光合成薄膜11的正常偏光薄片Xa和有缺陷偏光薄片Xe层压在光学薄膜的连续带状体中)中仅标识或区分具有与正常偏光薄片Xa的长度不同的长度的有缺陷偏光薄片Xe、或者仅将与标识信息相关联的有缺陷偏光薄片Xe标识或区分为有缺陷偏光薄片，并且从载体薄膜14中仅剥离和去除有缺陷偏光薄片Xe。图8(1)和图8(2)示出了这样的有缺陷偏光薄片去除单元190，其被适配为在控制单元400的控制下仅标识或区分有缺陷偏光薄片X0。图8(1)中的有缺陷偏光薄片去除单元190包括虚拟薄膜驱动机构191，其具有将有缺陷偏光薄片Xe可剥离地贴合到载体薄膜14上并且将有缺陷偏光薄片X0从载体薄膜14中剥离的功能；摆动机构192，其被适配为在有缺陷偏光薄片X0到达传送路径中要开始去除有缺陷薄片的位置时被激活，其中，摆动机构192被适配为摆动地移动光学薄膜的传送路径，使得光学薄膜的传送路径朝向或者远离虚拟薄膜驱动机构191的虚拟薄膜传送路径移动。图8(2)中的有缺陷偏光薄片去除单元190被配置为在控制单元400的控制下以与包括一对层压辊的层压单元200相互关联的方式移动，并且包括虚拟薄膜驱动机构191，其具有将有缺陷偏光薄片X0可剥离地贴合到其上和剥离的功能；摆动辊192，其定义虚拟薄膜驱动机构191的虚拟薄膜传送路径。图8(2)中的有缺陷偏光薄片去除单元190与图8(1)中的有缺陷偏光薄片去除单元190的区别在于在图8(2)中的有缺陷偏光薄片去除单元190中，定义虚拟薄膜传送路径的摆动辊与层压单元200的一对层压辊相邻地布置，并且被适配为以与层压单元200的层压辊相互关联的方式移动。更具体地，当有缺陷偏光薄片Xe到达层压单元200中光学薄膜的传送路径的终点位置(即，去除开始位置)时，相互分离地移动那对层压辊，并且将形成虚拟薄膜传送路径的摆动辊192移动到以间隔开的关系定位的层压辊之间的空隙。在该情况下，通过载体薄膜卷绕机构210卷绕载体薄膜3014，并且将从所卷绕的载体薄膜14剥离的有缺陷偏光薄片X0贴合到摆动辊。(光学薄膜的连续带状体中的切口线的检查)在光学薄膜层压板10的连续带状体的制造过程中，基于所检查的偏光合成薄膜11中存在的缺陷的定位或坐标位置，预先定义两种区域没有缺陷的正常区域、以及有一个或多个缺陷的有缺陷区域，并且基于这样的区域，从层积体卷筒展开的光学薄膜的连续带状体具有处于编码信息20的形式的切口位置信息，切口位置信息指示要在在液晶显示元件的制造过程期间正在连续传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置。在液晶显示元件的制造过程期间，通过读取单元120读取切口位置信息，并且切口单元150基于所读取的切口位置信息起作用以便沿横跨传送方向的方向在光学薄膜的连续带状体中形成切口线。明显的是，如果没有精确地形成切口线，则与在从光学薄膜层积体卷筒10传送光学薄膜的连续带状体期间测量的、关于光学薄膜传送出的长度的测量数据相关联地控制切口单元150的操作将变得没有意义。图9是示出包括用于确定在光学薄膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置与如由读取单元120读取的要形成切口线的位置之间的不同的检查手段的切口位置检查单元160的操作的示意图。相对于切口单元150，在沿传送方向看上去的上游侧和下游侧提供两个切口位置检查单元160。在下游的切口位置检查单元160的下游侧布置包括传送辊的薄膜传送单元170,使得下游的切口位置检查单元160起作用以重新开始在形成切口线时临时停止的光学薄膜的连续带状体的传送。在上游的切口位置检查单元160的上游侧布置包括浮动辊的速度调节单元140，使得即使在形成切口线时临时停止光学薄膜的连续带状体的传送，也可以维持由包括传送辊的薄膜传送单元130进行的光学薄膜的连续带状体的传送。通过确定光学薄膜的行进方向(X方向)和横跨方向(Y方向)中的精确位置，可以确认沿横跨光学薄膜的连续带状体的传送方向的方向实际形成的切口线的位置与基于关于光学薄膜传送长度的测量数据而计算的位置之间的一致性。一个优选方式是在光学薄膜上要形成切口线的位置的相对侧的两个定位执行测量，以获得所形成的缺口线的位置和光学薄膜的边缘相对于参考线在X方向和Y方向上的偏差。例如，可以向切口位置检查单元160提供CCD照相机，以拍摄实际形成切口线的位置以及光学薄膜边缘的位置的图像并且产生图片化的图像。在图像拍摄区域中预先提供参考线。可以根据所拍摄的图像中的对比度差异，确定实际形成切口线的位置和光学薄膜边缘的位置。然后，进行计算以确定在预先确定的参考线与实际形成切口线和光学薄膜边缘的位置之间的距离(偏差)，并且基于所计算的距离(偏差)，相对于光学薄膜的连续带状体的传送方向，前向地或后向地校正切口单元150的定位和角度位置。更具体地，如图6中所示，执行步骤3、4和7以便在施加张力的情况下传送光学薄膜的连续带状体，并且在步骤5中，在光学薄膜的连续带状体中形成切口线。然后，由两个切口位置检查单元160执行下一步骤，以便确定在光学薄膜上实际形成切口线的位置和要形成切口线的位置之间是否存在任何偏差，要形成切口线的位置是基于由读取单元120读取的切口位置信息而确定的，并且在存在任何偏差的情况下，执行步骤6和8以便例如以如下方式校正切口单元150的角度位置和定位。例如根据以下程序执行用于确定光学薄膜上实际形成切口线的位置和如由读取31单元120读取的要形成切口线的位置之间的偏差的检查方式。(1)通过切口位置检查单元160的CXD照相机拍摄光学薄膜上实际形成切口线的位置(X)和光学薄膜边缘的两个位置(Yl，Y2)的图像，图像被图片化以便根据对比度差异测量光学薄膜上实际形成切口线的位置(X)和光学薄膜边缘的位置(Y1，Y2)。(2)在切口位置检查单元160之一的成像区域中在如沿X方向看上去的上游位置处沿Y方向延伸的参考线和在另一个切口位置检查单元160的成像区域中在如沿X方向看上去的下游位置处沿Y方向延伸的另一参考线之间的中间位置处，切口线参考位置以沿Y方向延伸的线的形式存在，并且经由信息处理设备410预先在存储设备420中存储表示上游参考线和下游参考线之间的距离的数据Y。此外，在切口位置检查单元160的各图像拍摄区域中分别存在沿X方向延伸的上游和下游参考线。(3)基于参考线和所测量的切口线(X)与光学薄膜边缘的位置，计算切口线位置的校正值α和切口线角度位置的校正值S。光学薄膜中切口线位置的校正值α对应于所测量的偏差α、或者实际切口线位置(X)和沿Y方向延伸的下游侧参考线之间的偏差α。可以基于光学薄膜边缘的两个位置处沿Y方向的偏差、或者光学薄膜的边缘相对于沿X方向延伸的上游参考线和下游参考线中的相应的参考线的偏差(β，β2)、以及两个参考线之间的距离数据Y，根据以下公式来计算切口线角度位置的校正值δ。δ=COS"1γ·(4)使用存储设备420存储校正值(α，δ)，以便基于所测量和计算的数据向切口单元150施加指令以在X方向上按照值δ执行角度位置校正和按照值α执行位置校正，从而使得切口线与沿Y方向延伸的参考切口线位置符合。(5)切口单元150接收来自控制单元400的、用于在光学薄膜中形成切口线的下一操作的指令，以便基于所存储的校正值(α,δ)执行沿传送方向的位置校正和沿相对于传送方向的横跨方向的角度位置校正。(6)此后，切口单元150在光学薄膜的连续带状体中形成下一切口线。(去除有缺陷偏光薄片、以及将正常偏光薄片层压在液晶面板上)关于根据该实施例的光学薄膜层积体卷筒10的第一特征在于在将从在正在供应的光学薄膜的连续带状体中包含的偏光合成薄膜11中切割的正常偏光薄片Xa层压在液晶面板W上之前，通过有缺陷薄片去除单元190仅取出从偏光合成薄膜11中切割的有缺陷偏光薄片Xe，而不中断光学薄膜的连续带状体的传送。该实施例的第二特征在于可以通过载体薄膜卷绕驱动机构210仅将从偏光合成薄膜11中切割的正常偏光薄片Xa传送到要与液晶面板W层压的位置，而同时消除了对于中断传送光学薄膜的连续带状体的需要，在逐片型薄片的情况下或者在逐片型薄片的制造中，这样的特征是不可想象的。明显的是，在液晶显示元件的制造过程中使用这样的光学薄膜层积体卷筒10导致将正常偏光薄片Xa贴合到液晶面板W的速度的显著增加和精度的显著提高。(传送液晶面板、以及与正常偏光薄片Xa层压)在具体详细描述用于将液晶面板W与已经从偏光合成薄膜11切割出的正常偏光薄片Xa层压的、包括被适配为向着彼此或者远离彼此移动的一对层压辊的层压单元200之32前，将简要地进行关于液晶面板W的输送或传送装置300的描述，所述液晶面板W要与从同样正在供应的光学薄膜的连续带状体形成的偏光合成薄膜11的正常偏光薄片层压。采用具有42英寸的对角线屏幕尺寸的大尺寸电视作为示例，矩形形状的液晶面板W具有长度大约为540到560mm和宽度大约为950到970mm的尺寸。在液晶显示元件的制造过程中，在包括电子组件的安装操作的布线阶段期间，沿着液晶面板W的外围对其稍微进行修整。替代地，液晶面板W可以与已经被修整过的外围一起输送或传送。利用液晶面板供应装置从包含大量液晶面板的库中逐个地取出液晶面板W，并且其被通过传送装置300例如通过调节为相等的间隔和恒定的输送速度来通过清洗/干燥阶段传送到用于与偏光合成薄膜的各正常偏光薄片Xa层压的位置。从光学薄膜的连续带状体形成正常偏光薄片Xa，以具有比液晶面板W的尺寸稍小的尺寸。如图10所示，在用于将正常偏光薄片Xa层压在液晶面板W上的最终阶段，液晶面板传送装置300包括用于控制面板的配向的预对准单元310和最终对准单元320、用于将面板传送到层压位置的传送单元330、以及用于检测液晶面板W的前边缘的面板边缘检测单元340。图10是示出基于在液晶显示元件的制造过程期间由读取单元120从光学薄膜的连续带状体读取的编码信息，利用在液晶面板传送装置300中提供的预对准单元310、最终对准单元320、用于将面板传送到层压位置的传送单元330、以及面板边缘检测单元340以对准的配向输送液晶面板W的示意图。此外，图11是示出用于将偏光薄膜薄片与液晶面板W层压的层压单元200的示意图，该层压单元200包括用于检测从正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成的偏光合成薄膜的正常偏光薄片Xa的前边缘的边缘检测单元220、以及用于检测与从偏光合成薄膜形成的正常偏光薄片Xa的传送方向的对准的前进方向检测单元230。优选地，载体薄膜14以恒定速度将正常偏光薄片Xa传送到层压位置。如图10或图11所示，在层压位置处，通过载体薄膜卷绕驱动机构210通过以锐角弯曲来仅将载体薄膜14剥离。通过以锐角弯曲来剥离载体薄膜14，逐渐暴露正常偏光薄片Xa上的粘贴层。这使得可以些许暴露正常偏光薄片Xa的前边缘，以便允许容易将液晶面板W的前边缘与正常偏光薄片Xa的前边缘对准。如图10所示，正常偏光薄片Xa的前边缘向层压单元200的一对层压辊(其现在彼此垂直地间隔开)之间定义的空隙移动，并且由边缘检测单元220检测。尽管以被层压在载体薄膜14上的状态传送正常偏光薄片Xa，但是很少精确地传送正常偏光薄片Xa以使得传送方向和载体薄膜14的横向方向之间的角度θ变为零。因此，例如通过使用前进方向检测单元230的CCD照相机拍摄薄片的图像并且使所拍摄的图像经过图像处理，来测量正常偏光薄片Xa沿传送方向和横跨方向的偏差，由此根据X、Y和θ计算所测量的偏差，并且通过控制单元400将所计算的数据存储在存储设备420中。然后，以均勻间隔和恒定速度从图5所例示的液晶面板供应装置依序供应多个液晶面板W。通过图10所例示的液晶面板传送装置300逐一地供应液晶面板W，并且使液晶面板W经过对准控制。现在将参考图10描述该对准控制。通过预对准单元310依序定位液晶面板W，使得它们在长度方向和宽度方向上分别与传送方向和传送路径中与传送方向垂直的方向对准。所定位的液晶面板W被传送到最终对准单元320，并且被放置在最终对准单元320上，该最终对准单元320包括被适配为由受控制单元400控制的驱动机构转动的对准台(table)。由面板边缘检测单元340检测放置在对准台上的液晶面板W的前边缘。检查所检测的液晶面板W的前边缘的位置是否与在存储设备中存储的参考层压位置相匹配，所述参考层压位置具体地为关于X、Y和θ(表示要层压到液晶面板W的正常偏光薄片Xa的配向)的计算数据。例如，使用图2所例示的液晶面板W的对准标记来测量液晶面板W的前边缘和参考层压位置之间的偏差，以计算角位移θ，并且将在其上放置有液晶面板W的对准台旋转角度位移θ。然后，将对准台连接到朝向层压位置的传送单元330。通过朝向层压位置的传送单元330将液晶面板W传送到层压位置，同时保持相同的配向，并且液晶面板W的前边缘与正常偏光薄片Xa的前边缘对准，并且放置在正常偏光薄片Xa的前边缘上。在最后阶段，在一对层积体卷筒之间保持彼此为对准关系的正常偏光薄片Xa和液晶面板W，并且由此传送正常偏光薄片Xa和液晶面板W以便获得所完成的液晶显示元件。将正常偏光薄片Xa与在施加张力的情况下前进的光学薄膜的连续带状体内的载体薄膜14一起传送到层压位置，使得正常偏光薄片Xa的外围被弯曲或下垂的可能性最小。因此，正常偏光薄片Xa不太可能被折曲或弯曲。这使得容易使液晶面板W与正常偏光薄片Xa对准，从而可以提高液晶显示元件的制造速度，并且可以提高产品精度。这样的方法和系统不可能应用于利用逐片型薄片的制造过程，其中，在将剥离片从每个逐片型薄片剥离以便暴露粘贴层、通过真空吸附将每个薄片传送到层压位置、并且相对于液晶面板W调节薄片的位置之后，将薄片层压到液晶面板W以便完成液晶显示元件。这是因为前述方法和系统涉及用于制造液晶显示元件的连续过程，其可以仅通过采用根据本实施例的光学薄膜层积体卷筒来实现。II.光学薄膜层积体卷筒，光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统现在将参考附图描述根据本发明的优选实施例的光学薄膜层积体卷筒、光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统。(偏光合成薄膜的结构)如图1所示，要层压到液晶面板上的光学薄膜的薄片典型地包括柔性光学薄膜，该柔性光学薄膜包括用于与液晶面板W的玻璃基板层压的、形成有丙烯酸粘贴层的偏光合成薄膜。偏光合成薄膜包括具有20到30μm厚度的偏光器(连续的偏光器层)，该偏光器包括已经经过使用碘酒的染色处理和交联处理的、并且此后通过长度方向或宽度方向的拉伸而经过配向处理的、由基于PVA的薄膜制成的基板，在其上进行层压的透明保护薄膜的一个表面或每个表面上提供偏光器，并且偏光器包括用于保护偏光器的、具有40到80μm厚度的、基于TAC的薄膜的基板，典型地，在偏光器的要层压到液晶面板W的侧上形成丙烯酸粘贴层。(使用传统的逐片型薄片的过程)如已经描述的，在逐片型薄片的制造过程中，通过将光学薄膜的连续带状体冲压或切割成矩形形状的薄片来制备逐片型薄片，每个逐片型薄片通过粘贴层与剥离片进行层压。每个被形成为矩形形状并且与剥离片进行层压的逐片型薄片被预先存储在液晶显示元件制造线的库中。然后，在将逐片型薄片与多个液晶面板W中各液晶面板进行层压的过程中，预先存储在库中的柔性逐片型薄片被逐个地传送到层压位置。可剥离地层压到在每个柔性逐片型薄片上形成的粘贴层的剥离片被剥离以暴露粘贴层，并且通过暴露的粘贴层将34逐片型薄片层压到多个液晶面板W的对应的一个液晶面板。在该过程中，由于逐片型薄片是柔性的，所以所经历的问题在于矩形形状的逐片型薄片的外围被弯曲或卷曲。因此，在使用这样的逐片型薄片的液晶显示元件制造过程中，为了以高度精确度迅速地执行与液晶面板的对准和层压，除了使用可能具有较少的弯曲或卷曲问题的逐片型薄片之外没有其它选择。为此目的，例如，将每个具有40到80μm厚度的保护薄膜层压到偏光器的两个相对面，而不是相对面之一，以便通过增加厚度来向逐片型薄片提供硬度。(光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统)图12到图14是示出根据本发明第一到第三实施例的、包括偏光合成薄膜的光学薄膜的卷筒的制造方法和系统的示意图。图15到图17是示出根据第一到第三实施例的制造方法和系统中各制造过程或制造步骤的流程图。在第一到第三实施例中，构成光学薄膜层积体卷筒10的偏光合成薄膜11可以由包括基于PVA的材料的基板的偏光器制成，该偏光器至少一个表面层压有优选地是透明材料的保护薄膜并且在另一表面上提供有粘贴层12。被采用为制造过程材料的载体薄膜14被可剥离地粘合到粘贴层12。在使用逐片型薄片的传统液晶显示元件制造过程中，在此使用的偏光合成薄膜在相对表面处向其上层压两个保护薄膜，以便向偏光薄片提供刚度。然而，在使用根据第一到第三实施例的光学薄膜的卷筒的液晶显示元件制造过程中，在层压位置处从载体薄膜14剥离从光学薄膜的卷筒10中的偏光合成薄膜11形成的正常偏光薄片Xa，并且其被从带状体中逐渐分离。应理解，当然不存在如在使用逐片型薄片的制造过程中对于在逐薄片的基础上剥离剥离片的需要。当从载体薄膜14剥离正常偏光薄片Xa时，将正常偏光薄片Xa的前边缘与正在朝向层压位置依序传送的多个液晶面板W的对应的一个液晶面板的前边缘对准。然后，通过由层压单元200的一对层压辊将正常偏光薄片Xa和对应液晶面板W彼此挤压来将它们层压在一起。在该过程中，由于薄片是逐渐传出的，因此不存在正常偏光薄片Xa的外围卷曲的风险。因此，不同于逐片型薄片，在第一到第三实施例中的包含于光学薄膜的连续带状体中的偏光合成薄膜11中，可以将保护薄膜仅层压到偏光器的表面之一，并且另外可以使保护薄膜的厚度为40μm或更少。现在将分别参考图12和15、图13和16、以及图14和17关于根据第一到第三实施例的光学薄膜卷筒的制造方法和系统进行描述。(根据第一实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统)图12是示出用于制造光学薄膜层积体卷筒的制造系统500的示意图，其包括偏光器制造线510，其用于生产连续的偏光器层(如在之前的描述中一样，下文中称为“偏光器”)；保护薄膜制造线520，其用于生产要层压在偏光器上的保护薄膜；偏光合成薄膜制造线530，其用于生产由偏光器和保护薄膜构成的层压板(下文中，该层压板将被称为“偏光薄膜”11°，以便将其与不具有粘贴层的偏光合成薄膜11区分开)；以及光学薄膜卷绕驱动机构580，其用于将载体薄膜和表面保护薄膜层压到偏光合成薄膜上以便生产光学薄膜。图15是示出制造系统500中的制造过程或步骤的流程图。偏光合成薄膜制造线530包括检查子线，其用于通过检查单元560检查在偏光薄膜11°中存在的缺陷；载体薄膜传送子线，其用于将在其上形成有可转印粘贴层12的载体薄膜14层压到偏光薄膜11°的相对表面之一；信息记录子线，其用于将包括切口位置信息的编码信息记录在载体薄膜14的表面上；表面保护薄膜传送子线，其用于通过表面保护薄膜13的粘贴表面将表面保护薄膜13层压到偏光薄膜11°的、与向其层压有载体薄膜14的表面相对的表面；以及卷绕子线，其用于卷绕在其上记录有编码信息的光学薄膜的连续带状体以便形成光学薄膜的卷筒。载体薄膜传送子线在其上安装有载体薄膜14的卷筒，在载体薄膜14上贴合有脱模薄膜，并且表面保护薄膜传送子线在其上安装有表面保护薄膜13的卷筒，在表面保护薄膜13的粘贴表面上贴合有脱模薄膜。切口位置信息是通过处理关于没有缺陷的正常区域和具有一个或多个缺陷的有缺陷区域的信息而获得的，所述正常区域和有缺陷区域是基于在检查子线处检测到的偏光薄膜11°中的缺陷的定位或坐标位置而预先在偏光薄膜11°中定义的，并且在从偏光合成薄膜形成正常偏光合成薄膜和有缺陷偏光薄片时，所述切口位置信息被用来至少指定要在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成切口线的位置。偏光器制造线510具有基于PVA的薄膜的卷筒，基于PVA的薄膜构成偏光器的基板并且以可旋转的方式安装在偏光线制造线510上，偏光器制造线510包括以下子线，其用于使利用层压板驱动机构540或其他驱动机构(未示出)从卷筒中展开的基于PVA的薄膜经过染色、交联、拉伸以及然后的干燥的处理。保护薄膜制造线520在其上可旋转地安装有构成保护薄膜的基板的、典型地是透明的基于TAC的薄膜的卷筒，并且包括以下子线，其用于使利用层压板驱动机构540或其他驱动机构(未示出)从卷筒中展开的透明的基于TAC的薄膜经过皂化处理，并且之后进行干燥。偏光薄膜11°的偏光合成薄膜制造线530和保护薄膜制造线520每一个包括以下子线，其用于将主要由基于聚乙烯醇的树脂构成的粘合剂涂覆到偏光器和保护薄膜之间的界面，并且干燥粘合剂以便通过仅具有若干μm厚度的粘贴层将它们粘合在一起。偏光薄膜11°的偏光合成薄膜制造线530包括包含一对层压辊的层压板驱动机构540。层压板驱动机构540包括具有并入在层压辊之一中的编码器的距离测量设备550。层压辊被适配为通过将保护薄膜和偏光器相对彼此挤压而将保护薄膜层压到偏光器，以便形成偏光薄膜11°，并且传送偏光薄膜11°。该制造系统500包括检查单元560，其用于检测要传送的偏光薄膜11°的表面和内部的缺陷。需要仅在检测缺陷之后向偏光薄膜11°提供粘贴层12，以便完成偏光合成薄膜11。因此，本制造系统500还包括载体薄膜供应机构570，在该载体薄膜供应机构上安装有具有粘贴层12的载体薄膜14的卷筒。载体薄膜14上的粘贴层12是在载体薄膜14的制造过程中通过使载体薄膜14的相对表面中的以下一个经过脱模处理、向那个表面涂覆包含粘合剂的溶剂、并且然后干燥该溶剂而预先形成的，载体薄膜的所述相对表面将可剥离地层压到偏光薄膜11°的相对表面中的要层压到液晶面板的一个相对表面上。当从载体薄膜供应机构570传送的载体薄膜以可剥离方式层压在偏光薄膜11°上时，在载体薄膜上预先形成的粘贴层12被转印到偏光薄膜11°上以便在偏光合成薄膜11上提供粘贴层12。制造系统500还包括信息记录单元630，其用于将编码信息记录在例如载体薄膜14的表面上。更具体地，信息记录单元630可操作为在使用所生产的光学薄膜层积体卷筒进行的液晶显示元件的制造过程期间，在正在传送的光学薄膜的连续带状体上，记录包括切口位置信息的编码信息，该切口位置信息指示要在光学薄膜的连续带状体中形成切口线以形成偏光合成薄膜的正常偏光薄片和有缺陷偏光薄片的位置。制造系统500还可以包括表面保护薄膜供应机构640，其用于通过粘贴表面将表面保护薄膜13层压到偏光薄膜11°的、与在其上层压有载体薄膜14的表面相对的表面上。最后，制造系统500包括光学薄膜卷绕驱动机构580，其用于驱动地卷绕由偏光薄膜11°构成的光学薄膜，偏光薄膜11°具有具有可转印的粘贴层的载体薄膜14和层压在偏光薄膜11°的相对表面上的表面保护薄膜13。在保护薄膜层压在偏光器的相对表面上的情况下，制造系统500将包括两个保护薄膜制造线520、520’(在图中省略了保护薄膜制造线520’)。此外，保护薄膜制造线520可以另外包括处理子线，其用于在将保护薄膜层压到偏光器之前，使保护薄膜的表面经过硬涂层处理和/或防耀眼或防眩处理。检查单元560包括包含例如C⑶照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610，其中，将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的距离测量设备550测量的测量数据相关联地处理。控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与作为从偏光薄膜11°的前边缘开始的长度的、基于距离测量设备550测量的输送长度的测量数据相关联地处理，从而产生表示偏光薄膜11°中缺陷的定位或坐标位置的位置数据，然后将该位置数据存储在存储设备620中。控制单元600起作用为基于关于所检测的缺陷的定位或坐标位置的位置数据来定义偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域。控制单元600起作用为基于关于所检测的缺陷的定位或坐标位置的位置数据来在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和正常区域。此外，控制单元600起作用为基于偏光合成薄膜11的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。提供切口位置信息以指示要在光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置。在液晶显示元件的制造过程期间，通过切口单元150成对地形成切口线，使得正在传送的光学薄膜的连续带状体在传送方向的两个相邻位置或者上游位置和下游位置处沿横跨其传送方向的方向被切口达到直至载体薄膜14的内表面的深度。所产生的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后，信息处理设备610起作用为基于所存储的切口位置信息与诸如关于制造批号和卷筒中光学薄膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地，创建编码信息。如已经提及的，编码信息优选地在使用光学薄膜卷筒的液晶显示元件的制造过程期间记录在包括于光学薄膜的连续带状体内的载体薄膜14上。应理解，将编码信息记录在载体薄膜14上的方式可以以多种方式改变，诸如，将编码信息全部记录在单个存储定位上的方式、将编码信息记录在以给定间隔(例如，以Im或IOOm的间隔)布置的多个存储区域上的方式。替代地，可以将编码信息记录在表面保护薄膜13(如果有的话)上，而不是在载体薄膜14上。应注意，由各对切口线定义的区域可以包括具有由液晶面板的要与偏光合成薄膜层压的边的长度确定的给定长度的无缺陷或正常区域、或者包括具有通常小于给定长度的长度的一个或多个缺陷的有缺陷区域。在液晶显示元件的制造过程期间，有必要允许切口单元150沿着基于在编码信息中包括的切口位置信息的多对切口线中对应对的切口线切割偏光合成薄膜11的有缺陷区域和正常区域，使得通过有缺陷偏光薄片去除单元190从载体薄膜14中去除有缺陷偏光薄片X0，并且将正常偏光薄片Xa从载体薄膜14剥离以便被层压到液晶面板W的一个表面上。37因此，根据液晶面板的要与正常偏光薄片层压的边的长度、基于与在偏光合成薄膜11中存在的缺陷的定位或坐标位置相关的位置数据，确定正常区域的长度(Xa)，使得该长度总是具有恒定值。然而，关于以相同方式定义的有缺陷区域，可以将用于沿传送方向恰恰位于有缺陷区域的上游的正常区域的两条切口线的上游切口线用作用于有缺陷区域的两条切口线的下游切口线，从而通过该下游切口线和稍稍位于缺陷的定位或坐标位置的上游的上游切口线来确定有缺陷区域的长度(Xe)。由于该下游切口线和缺陷的定位或坐标位置之间的长度可能不相同，因此，有缺陷区域的长度(Xe)改变。优选地，用于产生指示用于形成切口线的定位的切口位置信息的计算算法被配置为使得有缺陷区域的长度(Xe)不同于正常区域的长度(Xa)，如后面所述，例如，在任何情况下具有以下关系xe<xa。在第一到第三实施例中，创建编码信息的程序是共同的，从而后面将结合图18到28来描述该程序。现在将在下面描述用于将载体薄膜14层压到偏光薄膜11°的载体薄膜层压机构570。使用基于PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)的具有大约20到40μm厚度的薄膜作为基板，预先在载体薄膜制造线(未示出)中形成载体薄膜14。在使基于PET的薄膜的相对表面之一经过脱膜处理之后，通过将包含丙烯酸粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面、并且干燥该溶剂，可以在载体薄膜14的该相对表面上形成具有大约10到30μm厚度的可转印的粘贴层。通过使载体薄膜14以可剥离方式层压在偏光薄膜11°上，将粘贴层转印到偏光薄膜11°以便形成包括具有粘贴层的偏光合成薄膜11的光学薄膜。在使用以上述方式形成的光学薄膜层积体卷筒10的液晶显示元件的制造过程期间，在将偏光合成薄膜11的正常偏光薄片从载体薄膜14剥离并且将其贴合到液晶面板W时，将粘贴层12与偏光合成薄膜11的正常偏光薄片一起从载体薄膜14剥离。以与偏光合成薄膜11的卷绕长度相对应的长度，在载体薄膜制造线中预先生产的载体薄膜14被卷绕为卷筒。在根据第二和第三实施例的制造临时光学薄膜的卷筒的过程中，可以以相同方式在临时光学薄膜上形成可转印的粘贴层。如后面所描述的，在第二和第三实施例中，当剥离临时载体薄膜和/或临时表面保护薄膜时，在临时载体薄膜上形成的粘贴层以相同方式被转印到偏光合成薄膜11从而被并入到偏光合成薄膜11中。载体薄膜14的卷筒安装在支架571上以便进行旋转，并且通过载体薄膜层压机构570将从该卷筒中展开的载体薄膜14可剥离地层压在偏光薄膜11°上。提供脱膜薄膜卷绕驱动机构572以起作用为在将载体薄膜14可剥离地层压在偏光薄膜11°上时，卷绕被提供来保护在载体薄膜14上形成的粘贴层的脱膜薄膜并且暴露出粘贴层。参考图15的流程图，在步骤1中，层压驱动机构540起作用以在将保护薄膜层压到偏光器的一个表面上，由此生产然后被传送的偏光薄膜11°。在步骤2中，通过检查单元560检测在如此生产和传送的偏光薄膜11°中存在的缺陷。在步骤3中，将载体薄膜14的卷筒可旋转安装在支架571上。在步骤4中，脱膜薄膜卷绕驱动机构572和光学薄膜卷绕驱动机构580起作用以从卷筒中展开被形成有可转印的粘贴层的载体薄膜14，并且使所述粘贴层处于暴露状态。在步骤5中，通过载体薄膜层压机构570经过粘贴层将载体薄膜14可剥离地层压在偏光薄膜11°上，以形成具有粘贴层12的偏光合成薄膜11。信息处理设备610起作用为基于在步骤2中所检测的缺陷的定位或坐标位置来定义偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域，并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成薄膜11中形成有缺陷偏光薄片Xe和正常偏光薄片Xa的切口位置信息。在步骤6中，通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层压在偏光合成薄膜11上的载体薄膜14的表面上。在步骤7中，通过光学薄膜卷绕驱动机构580卷绕通过以上步骤形成的光学薄膜，以形成光学薄膜层积体卷筒。尽管这里关于其中将载体薄膜14可剥离地层压在粘贴层12的步骤与在偏光合成薄膜11上形成粘贴层12的步骤同步的过程作出了描述，但是应理解可以预先在偏光合成薄膜11上形成粘贴层12。另外，在步骤7之前，在将保护薄膜层压到偏光器之前，可以通过表面保护薄膜层压机构640附加地将表面保护薄膜13的粘贴表面层压在偏光合成薄膜11的与向其层压有载体薄膜14的表面相对的表面上，而与保护薄膜是否经过硬涂层处理或防耀眼或防眩处理无关。在此情况下，作为结果的光学薄膜具有在偏光合成薄膜11的各相对表面上层压有载体薄膜14和表面保护薄膜13的结构。(根据第二实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统)图13是示出用于制造光学薄膜层积体卷筒10的制造系统的示意图，其中，临时光学薄膜层积体卷筒10’安装在支架上，该卷筒包括偏光合成薄膜11，该偏光合成薄膜11包含与保护薄膜层压的偏光器、以及通过粘贴层12可剥离地层压在偏光合成薄膜11上的临时载体薄膜14’，并且连续地展开临时光学薄膜的连续带状体并从临时光学薄膜的连续带状体中剥离临时载体薄膜14’，以便在粘贴层12处于暴露状态的情况下经过用于检测偏光合成薄膜11中存在的缺陷的检查，此后载体薄膜14以可剥离的方式层压在偏光合成薄膜11的粘贴层12上，切口位置信息以与第一实施例中相同的方式记录在载体薄膜14的表面上，从而制造了光学薄膜层积体卷筒10。图16是示出该系统中的制造过程或步骤的流程图。在生产临时载体薄膜的卷筒10，的过程中，可以重复地在临时载体薄膜14’上预先形成可转印的粘贴层。因此，当将临时载体薄膜14’从正在连续地从卷筒中引出的临时光学薄膜的连续带状体中剥离时，将在临时载体薄膜上形成的粘贴层转印到偏光合成薄膜，从而被并入偏光合成薄膜11中。替代在临时载体薄膜14’上形成可转印的粘贴层，可以在偏光合成薄膜上预先形成粘贴层12，并且然后可以将经过脱膜处理的、被形成为简单薄膜的临时载体薄膜14”层压到粘贴层12上。此外，可以使要层压到偏光器的保护薄膜的表面经过硬涂层处理或防耀眼或防眩处理。用于制造根据图13中例示的本实施例的光学薄膜层积体卷筒10的制造系统500与根据图12中例示的第一实施例的制造系统共同地包括以下元件检查单元560，其包括用于检测在包括粘贴层12的偏光合成薄膜11中存在的一个或多个缺陷的图像读取设备590；载体薄膜层压机构570，其包括将载体薄膜14的卷筒安装在其上以便进行旋转的支架571；光学薄膜卷绕驱动机构580，其用于将所生产的光学薄膜驱动和卷绕成卷筒；控制单元600，其包括用于执行信息处理的信息处理设备610和用于将处理后的信息存储在其中的存储设备620；以及信息记录单元630，其用于将编码信息记录在光学薄膜(最终的光学薄膜)上。制造系统500还包括临时光学薄膜传送线530，该临时光学薄膜传送线530包括将临时光学薄膜的卷筒10’安装在其上以便进行旋转的支架531；以及包括用于连续地传送临时光学薄膜的一对传送驱动辊的薄膜传送驱动机构540。薄膜传送驱动机构540包括具有并入在传送驱动辊之一中的编码器的距离测量设备550，以便根据从临时光学薄膜的前边缘开始的长度来计算传送出的长度。另外，制造系统500包括包含临时载体薄膜重新卷绕驱动机构576的临时载体薄膜剥离单元575。参考图16中例示的制造过程，在步骤1中，在支架531上安装临时光学薄膜层积体卷筒10’。临时光学薄膜包括偏光合成薄膜11，该偏光合成薄膜11包含偏光器、以及形成有可转印的粘贴层并且层压在偏光合成薄膜11上的临时载体薄膜14’，在所述偏光器的相对表面之一或每个相对表面上层压有保护薄膜。在步骤2中，通过薄膜传送驱动机构540传送临时光学薄膜的连续带状体。在步骤3和4中，通过临时载体薄膜剥离单元575的临时载体薄膜卷绕驱动机构576剥离并除去临时载体薄膜14’。在步骤5中，通过检查单元560检测在粘贴层12处于暴露状态的偏光合成薄膜11中存在的一个或多个缺陷。检查单元560包括包含例如C⑶照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610，由此，将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的距离测量设备550测量的测量数据相关联地处理。控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与由距离测量设备550根据从临时光学薄膜的前边缘开始的长度而测量的关于输送长度的测量数据相关联地处理，从而创建表示粘贴层12处于暴露状态的偏光合成薄膜11中的缺陷的定位或坐标位置的位置数据，然后将该位置数据存储在存储设备620中。控制单元600可操作为基于关于所检测的缺陷的定位或坐标位置的位置数据来定义偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外，控制单元600起作用为基于在偏光合成薄膜11中定义的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。提供切口位置信息以指示要在光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置，并且在液晶显示元件的制造过程期间，通过切口单元150成对地形成切口线，使得正在传送的光学薄膜的连续带状体在传送方向的两个相邻位置或者上游位置和下游位置处沿横跨其传送方向的方向被切割达到直至载体薄膜14的内表面的深度。如此创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后，信息处理设备610起作用为基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和光学薄膜的卷筒中连续带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地，创建编码信息。创建编码信息的方式在第一到第三实施例中是共同的，从而后面将结合图18到28来对其进行描述。在步骤6和7中，通过载体薄膜层压机构570将仅经过脱膜处理的载体薄膜14送出，该载体薄膜层压机构570还充当为薄膜传送驱动机构。在步骤8中，将所送出的载体薄膜14层压到所暴露的粘贴层12。信息处理设备610基于在步骤5中所检测的缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和正常区域，并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成薄膜11中形成有缺陷偏光薄片Xe和正常偏光薄片Xa的切口位置信息。在步骤9中，通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层压在偏光合成薄膜11上的载体薄膜14的表面上。在步骤10中，通过光学薄膜卷绕驱动机构580将通过以上步骤形成的光学薄膜卷绕成光学薄膜层积体卷筒。第二实施例与第一实施例的不同之处在于预先生产和制备临时光学薄膜层积体卷筒10’。此外，第二实施例与第一实施例的不同之处在于当剥离在其上提供有可转印的粘贴层12的临时载体薄膜14’时，在通过剥离而暴露的表面上形成具有转印的粘贴层12的偏光合成薄膜11，并且在具有如此暴露的粘贴层12的偏光合成薄膜上进行在偏光合成薄膜11中存在的40缺陷的检测。尽管没有在图13或图16中图示，但是具体地在制造临时光学薄膜层积体卷筒的过程中，在步骤10之前，在将保护薄膜层压到偏光器之前，可以利用分离地提供的表面保护薄膜层压机构640将具有粘贴表面的表面保护薄膜13层压在偏光合成薄膜11的与在其上层压有载体薄膜14的表面相对的表面上，而与保护薄膜在一个表面上是否经过硬涂层处理或防耀眼或防眩处理无关。在此情况下，作为结果的光学薄膜具有在偏光合成薄膜11的各相对表面上分别层压有载体薄膜14和表面保护薄膜13的结构。(根据第三实施例的光学薄膜层积体卷筒的制造方法和系统)图14是示出用于制造光学薄膜层积体卷筒10的制造系统的示意图，其中，临时光学薄膜层积体卷筒10”安装在支架上，临时光学薄膜层压板包括偏光合成薄膜11，该偏光合成薄膜11包含偏光器和层压在偏光器上的保护薄膜、通过粘贴层12可剥离地层压在偏光合成薄膜11上的临时载体薄膜14’、以及通过粘贴表面层压在偏光合成薄膜11的与在其上层压有临时载体薄膜14’的表面相对的表面上的临时表面保护薄膜13’，其中，按照顺序，从正在从卷筒中连续展开的临时光学薄膜的连续带状体中连续地剥离临时载体薄膜14’和临时表面保护薄膜13’以使粘贴层暴露，并且具有暴露的粘贴层的光学薄膜经过对于偏光合成薄膜11中是否存在缺陷的检查，然后载体薄膜14可剥离地层压在偏光合成薄膜11的粘贴层12上，表面保护薄膜13通过粘贴层可剥离地层压在偏光合成薄膜的与在其上未层压有载体薄膜14的表面相对的表面上；此后，切口位置信息以与第一和第二实施例中相同的方式记录在载体薄膜14的表面上。图17是示出该系统中的制造过程或步骤的流程图。在生产临时载体薄膜的卷筒10’的过程中，重复地预先在临时载体薄膜14’上提供可转印的粘贴层。因此，当将临时载体薄膜14’从正在连续的从卷筒中传送出的临时光学薄膜的连续带状体中剥离时，将在临时载体薄膜上形成的粘贴层转印到偏光合成薄膜11，从而被并入偏光合成薄膜11中。替代在临时载体薄膜14’上形成可转印的粘贴层，可以在偏光合成薄膜上预先提供粘贴层12，并且然后可以在经过脱膜处理之后将临时载体薄膜14”层压到粘贴层12上。此外，作为要贴合到偏光器的保护薄膜，可以使用在贴合有表面保护薄膜的表面处经过硬涂层处理或防耀眼或防眩处理的薄膜。临时表面保护薄膜13’和表面保护薄膜13被形成为在要层压到偏光合成薄膜11中的侧上无可转印的粘贴表面。典型地，表面保护薄膜13被形成为与要层压到液晶面板的偏光合成薄膜的正常偏光薄片一体的薄片。因此，具有粘贴表面的表面保护薄膜13的薄片在液晶显示元件的制造过程中被用作用于保护相关联的液晶显示元件的表面的部件，并且在完成制造过程之后，将其与粘贴表面一起剥离和去除。如在图13中例示的实施例，用于制造根据图14中例示的第三实施例的光学薄膜层积体卷筒10的制造系统500包括临时光学薄膜传送线530，其包括具有在其上可旋转的安装有临时光学薄膜层积体卷筒10”的支架531，并且该传送线530包括包含用于连续地传送临时光学薄膜的一对传送驱动辊的薄膜传送驱动机构540。薄膜传送驱动机构540包括具有并入在传送驱动辊之一中的编码器的距离测量设备550，以便根据从临时光学薄膜的前边缘开始的长度来计算传送出的长度。制造系统500还包括包含临时载体薄膜卷绕驱动机构576的临时载体薄膜剥离单元575。制造系统500还包括如在根据图12例示的第一实施例的系统中的以下元件检查单元560，其包括用于检测在偏光合成薄膜11中存在的缺陷的图像读取设备590；载体薄膜层压机构570，其包括在其上可旋转地安装有载体薄膜14的卷筒的支架571；光学薄膜卷绕驱动机构580，其用于将所生产的光学薄膜驱动地卷绕成卷筒；控制单元600，其包括用于执行信息处理的信息处理设备610和用于将处理后的信息存储在其中的存储设备620；以及信息记录单元630，其用于将编码信息记录在光学薄膜上。另外，制造系统500还包括临时表面保护薄膜剥离单元645，该临时表面保护薄膜剥离单元645包括临时表面保护薄膜卷绕驱动机构646，其用于卷绕并剥离临时表面保护薄膜13’；以及表面保护薄膜层压机构640，其用于在偏光合成薄膜的与在其上层压有最终的载体薄膜14的表面相对的表面处将最终的表面保护薄膜13贴合到偏光合成薄膜，该机构640还充当薄膜传送驱动机构。参考图17中例示的各制造步骤，在步骤1中，在支架531上安装临时光学薄膜层积体卷筒10”。临时光学薄膜包括偏光合成薄膜11，该偏光合成薄膜11包含偏光器、以及形成有可转印的粘贴层并且层压在偏光合成薄膜11上的临时载体薄膜14’，在所述偏光器的相对表面之一或每个相对表面上层压有保护薄膜。在步骤2中，通过薄膜传送驱动机构540传送临时光学薄膜的连续带状体。在步骤3和4中，通过临时载体薄膜剥离单元575的临时载体薄膜卷绕驱动机构576剥离并除去临时载体薄膜14’。接下来，在步骤5和6中，通过临时表面保护薄膜剥离单元645的临时表面保护薄膜卷绕驱动机构646剥离并去除在层压有临时载体薄膜14’的表面处通过粘贴表面层压在偏光合成薄膜上的临时表面保护薄膜13’。在步骤7中，通过检查单元560在粘贴层12处于暴露状态的偏光合成薄膜11上检查其中缺陷的存在。检查单元560包括包含例如C⑶照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610，其中，将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的距离测量设备550测量的测量数据相关联地处理。控制单元600可操作为使得信息处理设备610和存储设备620将来自图像读取设备590的图像数据与由距离测量设备550根据从临时光学薄膜的前边缘开始的长度而测量的关于所输送的长度的测量数据相关联地处理，从而创建表示具有粘贴层12的偏光合成薄膜11中的缺陷的定位或坐标位置的位置数据，然后将该位置数据存储在存储设备620中。然后，控制单元600起作用为基于与所检测的缺陷的定位或坐标位置有关的位置数据来定义偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外，控制单元600起作用为基于如此定义的偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。提供切口位置信息以指示要在光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置，并且在液晶显示元件的制造过程期间，通过切口单元150，通过在传送方向的两个相邻位置或者上游位置和下游位置处沿横跨传送方向的方向切割正在传送的光学薄膜的连续带状体达到直至载体薄膜14的内表面的深度，来成对地形成切口线。所创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后，信息处理设备610起作用为基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和该卷筒中光学薄膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地，创建编码信息。创建编码信息的方式与第一到第三实施例中的方式是相同的，从而后面将结合图18到28来对其进行描述。在步骤8和9中，通过载体薄膜层压机构570将仅经过脱膜处理的载体薄膜14送42出，该载体薄膜层压机构570还充当为薄膜传送驱动机构。在步骤10中，将所送出的载体薄膜14以可剥离方式层压在所暴露的粘贴层12上。此外，在步骤11和12中，通过还充当表面传送驱动机构的表面保护薄膜层压机构640送出具有粘贴表面的表面保护薄膜13。在步骤13中，通过粘贴表面将所传送的最终表面保护薄膜13层压在偏光合成薄膜的与在其上层压有载体薄膜14的表面相对的表面上。这就是步骤13。然后，信息处理设备610起作用为基于在步骤7中所检测的缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和正常区域，并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成薄膜11中形成有缺陷偏光薄片X0和正常偏光薄片Xa的切口位置信息。在步骤14中，通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层压在偏光合成薄膜11上的载体薄膜14的表面上。最后，在步骤15中，通过光学薄膜卷绕驱动机构580将通过以上步骤形成的光学薄膜卷绕以形成光学薄膜层积体卷筒。第三实施例与第二实施例的不同之处在于利用不仅将临时载体薄膜14’而且还将临时表面保护薄膜13’层压在偏光合成薄膜11上的结构，预先制造和制备临时光学薄膜层积体卷筒10”。因此，在第三实施例中，在通过依序剥离临时载体薄膜14’和临时表面保护薄膜13’而暴露偏光合成薄膜11上的粘贴层12之后，执行缺陷检查。在第一实施例中，光学薄膜卷绕驱动机构580被配置为以与至少层压板驱动机构540、检查单元560以及载体薄膜层压机构570的操作相互关联的方式操作，以便卷绕在载体薄膜14的表面上记录有编码信息20的光学薄膜。在第二和第三实施例中，光学薄膜卷绕驱动机构580被配置为以与至少薄膜传送驱动机构540、重新卷绕驱动机构(576，646)、载体薄膜层压机构570以及表面保护薄膜层压机构640相互关联的方式操作，以便卷绕在载体薄膜14的表面上记录有编码信息20的光学薄膜。当需要时，为了调节光学薄膜的卷绕速度，制造系统500可以被提供有包括传送辊的速度调节机构(未示出)。此外，可以将编码信息记录在表面保护薄膜13上，而不是在载体薄膜14上。(编码信息的创建)在图22到25的表格和示意图中示出了创建包括与以上实施例中的缺陷位置相关的信息的编码信息20的实施例。应理解，可以以多种方式记录编码信息20，所述多种方式包括例如将编码信息全部记录在单个存储介质上的方式、将编码信息记录在以给定间隔(例如，以Im或IOOm的间隔)布置的多个存储介质上的方式。可以取决于液晶显示元件制造方法和系统等所需的存储容量和功能来确定对于要被存储为编码信息的位置信息的记录模式或内容的选择。因此，应注意，仅作为示例示出在图18和图19-21中的示意图和流程图中例示的实施例。编码信息20包括与诸如制造批号和该卷筒中连续带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起或者与所述附加信息相关联地记录在从光学薄膜层积体卷筒10中展开的连续带状体上的编码信息，并且包括用于标识包括粘贴层12的偏光合成薄膜11中预先定义的有缺陷区域和正常区域的信息，以及用于形成对应于有缺陷区域和正常区域的有缺陷偏光薄片和正常偏光薄片的切口位置信息。编码信息20可以是任何形式的代码，只要在液晶显示元件的制造过程期间可由连续制造系统1的读取单元120读取即可。图18是示出计算为了对正在输送的光学薄膜的连续带状体中的有缺陷区域和正43常区域划定界线而要形成各条切口线的位置的方式的示意图。控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与由距离测量设备550根据从偏光合成薄膜11的前边缘开始的长度而测量的关于输送出长度的测量数据相关联地处理，从而创建表示在偏光合成薄膜11中存在的缺陷的定位或坐标位置的位置数据，并且然后将该位置数据存储在存储设备620中。然后，控制单元600起作用为基于与所检测的缺陷的定位或坐标位置相关的位置数据来定义偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外，控制单元600起作用为基于偏光合成薄膜11中的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。提供切口位置信息以指示要在光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置。在液晶显示元件的制造过程期间，通过切口单元150，通过在传送方向的两个相邻位置或者上游位置和下游位置处沿横跨传送方向的方向切口正在传送的光学薄膜的连续带状体达到直至载体薄膜14的内表面的深度，来成对地形成切口线。所创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后，信息处理设备610操作为基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和光学薄膜卷筒中连续带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与所述附加信息相关联地，创建编码信息。图19到21是示出用于计算要在正在传送的光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置的三种不同过程的流程图。下面将基于图18的示意图和图19到21的流程图来描述计算过程。图18的示意图示出了正在由载体薄膜层压机构570的传送辊沿右方向连续传送的包括在其上层压有保护薄膜的偏光器的偏光薄膜11°、或者具有粘贴层的偏光合成薄膜11(下文中将偏光薄膜11°和偏光合成薄膜11统称为“偏光合成薄膜11”)。然而，考虑到由载体薄膜层压机构570形成光学薄膜的事实，通过将具有可转印的粘贴层的载体薄膜14可剥离地层压在包括在其上层压有保护薄膜的偏光器的偏光合成薄膜11上，正在由传送辊连续供应的偏光合成薄膜在这里将被统称为“光学薄膜”。图19到21的流程图示出了直到由控制单元600创建的编码信息20被记录在光学薄膜上(优选地在载体薄膜14的表面上)的时间的具体步骤，并且通过光学薄膜卷绕驱动机构580卷绕在其上记录有编码信息的光学薄膜。在任一种情况下，在步骤1中，控制单元600操作为指令层压板驱动机构540和光学薄膜卷绕驱动机构580传送光学薄膜。在步骤2中，控制单元600指令包括图像读取设备590的检查单元560检测在光学薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置，并且将所检测的缺陷的定位或坐标位置与所检测的缺陷的类型和尺寸一起存储在存储设备620中。在步骤3和4中，控制单元600起作用为确定光学薄膜的薄片的长度和与正常区域的长度相对应的长度(Xa)之间的关系。确定该关系的方法如下。在步骤3中，控制单元600起作用为操作信息处理设备610以计算正在传送的光学薄膜的参考位置和缺陷的定位之间的距离X，并且将所计算的距离X存储在存储设备620中。如图18所示，该距离X是例如载体薄膜层压机构570的位置(光学薄膜的参考位置)和检查单元560(或图像读取设备590)的位置(缺陷位置)之间的距离。在步骤4中，控制单元600还起作用为操作信息处理设备610以从距离X中减去与正常区域的长度相对应的长度(Xa)从而获得距离(X-Xa)=X'，并且然后将距离X'存储在存储设备620中。由系统管理员基于预先存储在存储设备620中的液晶面板的尺寸确定与光学薄膜的正常区域的长度相对应的长度(Xa)。然后，控制单元600起作用为操作信44息处理设备610以确定所计算的距离X是大于还是小于与光学薄膜的正常区域的长度相对应的长度(Xa)。具体地，如果图18中的X'(或X")>Xa关系成立，则应理解可以确保光学薄膜的正常区域(Xa)，从而控制单元600指令层压板驱动机构540和光学薄膜卷绕驱动机构580在施加张力的情况下使光学薄膜传送正常区域的长度(Xa)。在该情况下，长度(Xa)的值是用于形成与光学薄膜中的正常区域相对应的正常偏光薄片Xa的切口位置信息。相反，如果关系是X'SXa，即图18中的X'“SXa，应理解不能确保光学薄膜的正常区域(Xa)。在该情况下，具有长度(Xe)的光学薄膜的区域是有缺陷区域(Xe)，从而控制单元600起作用为操作信息处理设备610以通过将恒定值Xtl加到X'(图18中的X'“)来计算与有缺陷区域(Xe)相对应的长度(X'+X0)=Xe，并且指令层压板驱动机构540和光学薄膜卷绕驱动机构580在施加张力的情况下使光学薄膜传送有缺陷区域的长度(Xe)。在该情况下，值(Xe)是用于形成与光学薄膜中的有缺陷区域相对应的有缺陷偏光薄片Xe的切口位置信息。具体地，控制单元600操作以计算以下(a)和(b)，从而创建指示要在液晶显示元件的制造过程期间传送的光学薄膜的连续带状体中形成各条切口线的位置以便形成偏光合成薄膜的正常偏光薄片Xa和有缺陷偏光薄片X0的切口位置信息，并且然后将该切口位置信息存储在存储设备620中(a)如果X'>Xa，则到用于形成下一切口线的位置的距离为(Xa)；以及(b)如果X'<Xa，则到用于形成下一切口线的位置的距离为(X'+Xtl=X0K顺便提及，如果与有缺陷区域的长度相对应的长度(X'+X0=X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(xa)，即如果(X'+X0)=(Xa)，则控制单元600不能相对于有缺陷区域(Xe)标识或区分正常区域(Xa)。这意味着要被辨认为有缺陷区域(Xe)的区域不能被辨认为有缺陷区域(X0)，从而例如基于关于光学薄膜的传送出长度的测量数据不能将正常区域(Xa)和有缺陷区域(Xe)彼此区分开，并且基于测量数据(X'+X0)创建的编码信息不可避免地变为有缺陷的。假设，这种情况在光学薄膜中的缺陷的定位或坐标位置无限接近用于在光学薄膜中形成下一切口线的位置时、或者在与正常区域的长度相对应的长度(Xa)上分布一连串缺陷时出现。在步骤5中，如果(X'+X0)变得等于(Xa)，则控制单元600起作用为操作信息处理设备610以基于以下方法中的至少一种方法来执行计算，以便创建用于相对于有缺陷区域(Xe)标识或区分正常区域(Xa)的信息。在图19例示的步骤5中，即使作为信息处理设备610进行的计算的结果，到用于形成下一切口线的距离(X'+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(xa)，所述距离中的区域也不一定是正常区域(Xa)。为了使得可以辨认这样的区别，例如，作为图23中例示的包括缺陷的信息Xy，可以将数字后缀“0”与指示用于形成与正常区域相对应的切口线的位置的切口位置信息相关联，并且将数字后缀“1”与指示用于形成与有缺陷区域相对应的切口线的位置的切口位置信息相关联。在图20例示的步骤5中，作为信息处理设备610的计算结果，如果到要形成下一切口线的位置的距离(X'+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xa)，则进行信息处理使得到要形成下一切口线的位置的距离满足关系(X'+X0')，其中Xe/>XQ，并且将距离(x'+X0')存储在存储设备620中。如图24所45示，该信息处理使得通过计算不同于Xa的(X'+X0')可以允许相对于正常区域(Xa)标识或区分具有长度(X'+X0')的区域。此外，在图21例示的步骤5中，作为信息处理设备610所进行的计算的结果，如果到要形成下一切口线的位置的距离(X'+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xa)，则进行信息处理以允许到要形成下一切口线的位置的距离变为[(X'+XQ)/m]，其中m=2或更大，优选地2或3，并且将距离[(X'+XQ)/m]存储在存储设备620中。作为图20的情况，图25中例示的信息处理被配置为计算不同于Xa的[(X'+XtlVm],以便允许相对于正常区域(Xa)标识或区分具有长度[(X'+XtlVm]的区域。综上所述，在创建用于识别或区分有缺陷区域和正常区域的信息的过程中，可以采用以下方法中的任一种方法(1)将有缺陷标识信息或包括缺陷的信息Xy创建作为用于相对于正常区域(Xa)标识或区分具有由信息处理设备610计算的长度(X'+X0)的区域的信息的方法；(2)将到由信息处理设备610计算的要形成下一切口线的位置的距离创建为不同于Xa的距离(X'+X0')(其中Xe/>x。)的方法；以及(3)将到由信息处理设备610计算的要形成下一切口线的位置的距离创建为不同于Xa的距离[(X'+x。)/m](其中!11=2或更大)的方法。优选地，在采用方法(2)或(3)的情况下，通过图20或21例示的信息处理将(X'+Xo)=(Xo)改变为(X'+Xo')≠Xα。或[(X'+Xo)/m]≠Xa。因此，可以将要形成下一切口线的位置用作指示相对于正常区域所标识或区分的有缺陷区域的信息。接下来，在任一种情况下，在步骤6中，控制单元600起作用为基于步骤4和5中的计算结果操作信息处理设备610以确定参考位置和要形成下一切口线的位置之间的长度。在方法(2)或(3)中，在步骤7中，控制单元600操作以使得信息处理设备610将如在步骤6中所确定的到要形成下一切口线的位置的长度存储在存储设备620中。然而，在方法(1)中，控制单元600起作用为操作信息处理设备610以将到要形成下一切口线的位置的长度与包括缺陷的信息Xy相关联地存储。在任一种情况下，在步骤8中，控制单元600起作用为操作信息处理设备610以基于在步骤7中存储的用于形成下一切口线的位置将指示要相对于正在传送的光学薄膜的前边缘形成切口线的位置的切口位置信息与诸如制造批号和卷筒中光学薄膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起或相关联地转化为编码信息。在方法(1)中，应理解，同时将包括缺陷的信息Xy转化为编码信息。在步骤9中，控制单元600起作用为操作信息记录单元630以将由信息处理设备610在步骤8中转化的编码信息记录在光学薄膜上，优选地在载体薄膜的表面上。在方法(1)中，应理解，也将编码后的包括缺陷的信息Xy与编码信息一起记录。最后，在步骤10中，控制单元600起作用为操作层压板驱动机构540和光学薄膜卷绕驱动机构580以卷绕完成的光学薄膜。由此完成了光学薄膜层积体卷筒。在图22到25中示出了编码信息的示例。(具体示出缺陷检查过程的、光学薄膜层积体卷筒的制造系统的细节)参考图26和27，将结合检查在具有粘贴层12的偏光合成薄膜11中存在的缺陷的具体方法来更具体地描述光学薄膜层积体卷筒的制造系统。图26是示出基于根据第二实施例(或者根据本发明的第四实施例)的制造系统的、具有两个检查单元的光学薄膜层积体卷筒的制造系统700的示意图。在临时光学薄膜10’的制造过程中，偏光薄膜11°被形成为包括在其相对表面的至少一个上层压有保护薄膜的偏光器的结构，并且在偏光薄膜11°的另一表面上形成粘贴层12以便形成偏光合成薄膜11。然后，将临时载体薄膜14’可剥离地层压在偏光合成薄膜U的粘贴层12上，并且将作为结果的临时光学薄膜卷绕为卷筒以形成临时光学薄膜层积体卷筒10’。临时光学薄膜的卷筒10’可旋转安装在临时光学薄膜传送单元710的支架711上。除了临时光学薄膜传送单元710之外，制造系统700包括临时载体薄膜卷绕驱动机构720、第一检查单元730、第二检查单元731、控制单元740、载体薄膜传送单元750、载体薄膜层压机构760、光学薄膜卷绕驱动机构770、以及信息记录单元780。通过临时光学薄膜传送单元710从临时光学薄膜的卷筒10’连续传出临时光学薄膜。临时载体薄膜卷绕驱动机构720沿临时光学薄膜的传送方向布置，并且被适配为通过从临时光学薄膜剥离并除去临时载体薄膜14’来卷绕临时载体薄膜14’。第一和第二检查单元730、731中的每一个被适配为检测具有作为剥离临时载体薄膜14’的结果而暴露的粘贴层12的偏光合成薄膜11的表面和内部中的一个或多个缺陷。第一检查单元730包括图28中例示的透射检查设备。设计透射检查方法使得将从光源发出的可见光垂直于偏光合成薄膜11而投影到偏光合成薄膜11，并且通过光学检测单元接收已经通过偏光合成薄膜11的光，以便以阴影形式检测在偏光合成薄膜11中存在的一个或多个缺陷。第二检查单元731包括图28中例示的正交尼科尔透射检查设备。设计正交尼科尔透射检查方法使得将从光源发出的可见光垂直地或倾斜地引入以如下方式紧接在光学检测单元之前布置的偏光滤光器，所述方式为偏光滤光器的吸收轴相对于偏光合成薄膜11的吸收轴以直角配向，通过光学检测单元接收已经通过偏光合成薄膜的光，以便作为亮斑检测偏光合成薄膜中的缺陷。控制单元740起作用为操作信息处理设备741，以便基于由第一检查单元730和第二检查单元731检测的缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和正常区域。然后，控制单元740起作用为操作信息处理设备741，以便基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成薄膜11中形成有缺陷偏光薄片Xe和正常偏光薄片Xa的切口位置信息，并且将切口位置信息转化为编码信息20。信息记录单元780被适配为将编码信息记录在新层压在偏光合成薄膜11上的载体薄膜14的表面。布置在第二检查单元731的下游的载体薄膜传送单元750被适配为沿着偏光薄膜11的传送方向从可旋转安装在支架751中的载体薄膜14的卷筒中连续展开载体薄膜14。载体薄膜层压机构760配备有一对辊，并且被适配为在检查单元完成检查之后将载体薄膜14可剥离地层压在暴露的粘贴层12上。可以通过信息记录单元780重复地将编码信息记录在新层压在粘贴层上的载体薄膜14的表面上。所创建的光学薄膜被光学薄膜卷绕驱动机构770卷绕为卷筒，并且然后被形成为光学薄膜10的卷筒。控制单元740起作用为以相互关联的方式控制单元、机构以及设备各自的操作。图27是示出基于根据第三实施例的制造系统的、具有四个检查单元的光学薄膜层积体卷筒的制造系统800的示意图。在临时光学薄膜层积体卷筒10”的制造过程中，将偏光薄膜11°形成为包括在其相对表面的至少一个上层压有保护薄膜的偏光器，并且在偏光薄膜11°的另一表面上形成粘贴层12以便形成偏光合成薄膜11。然后，将临时载体薄膜14’可剥离地层压在偏光合成薄膜11的粘贴层12上，并且将临时表面保护薄膜13’可剥离地层压在偏光合成薄膜11的、与在其上层压有临时载体薄膜14’的表面相对的表面上。作为结果的临时光学薄膜被卷绕为卷筒以形成临时光学薄膜的卷筒10”。临时光学薄膜的卷筒10”可旋转安装在临时光学薄膜传送单元810的支架811上。除了临时光学薄膜传送单元810之外，制造系统800包括临时载体薄膜卷绕驱动机构820、临时表面保护薄膜卷绕驱动机构830、第一检查单元840、第二检查单元850、第三检查单元851、第四检查单元852、控制单元860、临时表面保护薄膜传送单元870、载体薄膜传送单元880、两组层压机构890(载体薄膜层压机构891、表面保护薄膜层压机构892)、光学薄膜卷绕驱动机构910、以及信息记录单元920。通过临时光学薄膜传送单元810从临时光学薄膜层积体卷筒10”连续展开临时光学薄膜。临时表面保护薄膜卷绕驱动机构830沿临时光学薄膜的传送方向布置，并且被适配为通过从临时光学薄膜剥离并除去临时表面保护薄膜13’来卷绕临时表面保护薄膜13’。临时载体薄膜卷绕驱动机构820布置在临时表面保护薄膜卷绕驱动机构830的下游并沿临时光学薄膜的传送方向布置，并且被适配为通过从临时光学薄膜剥离并除去临时载体薄膜14’来卷绕临时载体薄膜14’。如图27所示，检查单元布置在制造系统800相应的四个位置。第一检查单元840位于临时表面保护薄膜卷绕驱动机构830和临时载体薄膜卷绕驱动机构820之间，并且被适配为在仅剥离临时表面保护薄膜13’而临时载体薄膜14’仍在带状体上的状态下检查临时光学薄膜。具体地，进行检查以基于来自暴露的偏光合成薄膜11的保护薄膜的反射光来检测偏光合成薄膜11的表面中的一个或多个缺陷。第二检查单元850、第三检查单元851和第四检查单元852位于临时载体薄膜卷绕驱动机构820和载体薄膜传送单元880之间，使得它们通过使光透射过具有作为由临时载体薄膜卷绕驱动机构820剥离临时载体薄膜13’的结果而处于暴露状态的粘贴层12的偏光合成薄膜11，来检查偏光合成薄膜的表面和内部中的一个或多个缺陷。更具体地，第二到第四检查单元每个被配置如下。第二检查单元850被设计用于图28例示的透射检查。设计透射检查方法使得将从光源发出的可见光垂直于偏光合成薄膜11而投影到偏光合成薄膜11，并且通过光学检测单元接收已经穿过偏光合成薄膜11的光，以便以阴影形式检测在偏光合成薄膜11中存在的一个或多个缺陷。第三检查单元851被设计用于图28例示的倾斜透射检查。设计倾斜透射检查方法使得将从倾斜透射光源发出的可见光以斜角投影到偏光合成薄膜11，并且通过光学检测单元接收已经穿过偏光薄膜的光，以便以阴影形式检测在光学薄膜中存在的一个或多个缺陷。第四检查单元852包括图28中例示的正交尼科尔透射检查设备。设计正交尼科尔透射检查方法使得将从光源发出的可见光垂直于偏光合成薄膜地或倾斜于偏光合成薄膜而投影到偏光合成薄膜，并且偏光滤光器紧接在光学检测单元之前布置，偏光滤光器的吸收轴相对于偏光合成薄膜的吸收轴以直角配向，通过光学检测单元接收已经通过偏光合成薄膜的光，由此作为一个或多个亮斑检测在偏光合成薄膜中存在的一个或多个缺陷。控制单元860起作用为操作信息处理设备861，以便基于由第一检查单元840、第二检查单元850、第三检查单元851和第四检查单元852检测的一个或多个缺陷的定位或坐48标位置来在偏光合成薄膜11中定义有缺陷区域和正常区域。然后，控制单元860起作用为操作信息处理设备861，以便基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光薄膜中形成有缺陷偏光薄片Xe和正常偏光薄片Xa的切口位置信息，并且将切口位置信息转化为编码信息20。信息记录单元920被适配为将编码信息记录在新层压在偏光合成薄膜11上的载体薄膜14的表面上。布置在第四检查单元852的下游的载体薄膜传送单元880被适配为沿着偏光薄膜11的传送方向从可旋转安装在支架881中的载体薄膜层压板14的卷筒中连续展开载体薄膜14。布置在载体薄膜传送单元880的下游的临时表面保护薄膜传送单元870被适配为沿着偏光薄膜11的传送方向从可旋转装载在支架871中的表面保护薄膜13的卷筒中连续展开表面保护薄膜13。层压机构890，或者载体薄膜层压机构891和表面保护薄膜层压机构892每个具有一对辊，其起作用为在布置在四个位置处的检查单元完成检查之后将载体薄膜14和表面保护薄膜13分别可剥离地层压在暴露的粘贴层12和不具有粘贴层的偏光合成薄膜的表面上。可以通过信息记录单元920重复地将编码信息记录在新层压在粘贴层上的载体薄膜14的表面上。所创建的光学薄膜被光学薄膜卷绕驱动机构910卷绕，并且被形成为光学薄膜的卷筒10。控制单元860可操作为以相互关联的方式控制单元、机构以及设备各自的操作。尽管已经结合本发明的优选实施例描述了本发明，但是将理解本领域技术人员将在不偏离在所附权利要求中所限定的本发明的精神和范围的情况下作出各种改变和修改，并且所附权利要求的合法等效物可以替代所附权利要求的元件。相应地，本发明不限于被作为用于实施本发明的最佳模式而公开的具体实施例，而是意图涵盖包含在其范围之内的所有实施例。权利要求一种被适配用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层压板的辊，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续网的传送方向的方向、以与连续网的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续网中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到所述多个液晶面板中对应的一个液晶面板的相对侧之一，其中，光学薄膜的特征在于其包括偏光合成薄膜和以可剥离方式层压到偏光合成薄膜的粘贴层上的载体薄膜，该偏光合成薄膜包含由偏光器层和层压在偏光器的连续层的相对表面中至少一个上的保护薄膜构成的层压板以及在该层压板的相对表面之一上提供的粘贴层，并且其中偏光合成薄膜具有有缺陷区域和无缺陷的正常区域，已经基于在偏光合成薄膜中存在的并且通过预先检查检测到的缺陷的定位或坐标位置预先定义了有缺陷区域和无缺陷的正常区域，光学薄膜的连续网在其上记录有编码信息，该编码信息包括用于基于偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域而指定通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续网中形成各个切口线的位置的切口位置信息，编码信息可由连续制造系统的读取单元读取。2.如权利要求1所述的辊，其特征在于编码信息还包括用于标识偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域的信息。3.如权利要求1或2所述的光学薄膜层压板的辊，其特征在于光学薄膜还包括表面保护薄膜，该表面保护薄膜具有可剥离地层压在偏光合成薄膜的与在其上可剥离地层压有载体薄膜的表面相对的表面上的粘贴表面。4.如权利要求1至3中任一项所述的光学薄膜层压板的辊，其特征在于编码信息被记录在载体薄膜上或者表面保护薄膜上。5.如权利要求1至4中任一项所述的光学薄膜层压板的辊，其特征在于偏光合成薄膜具有与每个液晶面板的长边或短边相符合的宽度。6.一种生产用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层压板的辊的方法，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续网的传送方向的方向、以与连续网的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续网中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到所述多个液晶面板中对应的一个液晶面板的相对侧之一，该方法的特征在于包括以下步骤(a)将从保护薄膜的辊传送的保护薄膜层压在从偏光器的连续层的辊传送的偏光器的连续层的相对表面的至少一个上，以便形成偏光合成薄膜；(b)检查所形成的偏光合成薄膜的表面和内部，以便检测在偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置；(c)将从载体薄膜的辊传送的载体薄膜可剥离地层压在其中已经确定了缺陷的定位或坐标位置的偏光合成薄膜上，以便形成光学薄膜的连续网；(d)基于在偏光合成薄膜中存在的并且通过检查检测到的缺陷的定位或坐标位置在所述偏光合成薄膜中定义有缺陷区域和正常区域，并且基于有缺陷区域和正常区域产生编码信息，所述编码信息包括指示通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续网中形成各个切口线的位置的切口位置信息；(e)以可由连续制造系统的读取单元读取的方式，将所产生的编码信息记录在光学薄膜的连续网上；以及(f)在将编码信息记录在光学薄膜的连续网上之后，将光学薄膜的连续网卷绕成辊以形成光学薄膜层压板的辊。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于编码信息还包括用于标识偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域的信息。8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于形成光学薄膜的网的步骤包括另一步骤将具有粘贴表面的表面保护薄膜可剥离地层压在偏光合成薄膜上的与在其上可剥离地层压有载体薄膜的表面相对的表面上。9.如权利要求6至8中任一项所述的方法，其特征在于编码信息被记录在载体薄膜上或者表面保护薄膜上。10.如权利要求6至9中任一项所述的方法，其特征在于载体薄膜具有通过在使载体薄膜的一个表面经过脱模处理之后将包含粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面并且使该溶剂干燥而形成的可转印的粘贴层。11.如权利要求6至10中任一项所述的方法，其特征在于检测缺陷的定位或坐标位置的步骤包括第一检查子步骤和第二检查子步骤，所述第一检查子步骤利用反射光主要检查偏光合成薄膜的表面，所述第二检查子步骤利用透射或正交尼科尔透射主要检查偏光合成薄膜的内部。12.如权利要求6至11中任一项所述的方法，其特征在于偏光合成薄膜具有与每个液晶面板的长边或短边相符合的宽度。13.—种生产用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层压板的辊的方法，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续网的传送方向的方向、以与连续网的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续网中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到所述多个液晶面板中对应的一个液晶面板的相对侧之一，其中该方法的特征在于包括以下步骤(a)提供包括偏光合成薄膜和临时载体薄膜的临时光学薄膜层压板的辊，偏光合成薄膜包含由偏光器层的连续层和层压在偏光器的连续层的至少一个表面上的保护薄膜构成的层压板、以及在该层压板的相对表面中的一个表面上提供的粘贴层，临时载体薄膜可剥离地层压在该粘贴层上；(b)从自在之前的步骤中提供的临时光学薄膜层压板的辊提供的临时光学薄膜中去除并卷绕临时载体薄膜，以便传送粘贴层处于暴露状态的偏光合成薄膜；(c)检查粘贴层处于暴露状态的偏光合成薄膜的一个或两个表面以及内部，以便检测在具有粘贴层的偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置；(d)在检测到具有粘贴层的偏光合成薄膜中的缺陷的定位或坐标位置之后，通过粘贴层将自载体薄膜的辊供应的载体薄膜可剥离地层压到偏光合成薄膜，以便形成光学薄膜的连续网；(e)基于偏光合成薄膜中缺陷的定位或坐标位置定义有缺陷区域和无缺陷的正常区域，并且基于有缺陷区域和正常区域产生编码信息，所述编码信息包括指示通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续网中形成各个切口线的位置的切口位置信息；(f)以可由连续制造系统的读取单元读取的方式，将所产生的编码信息记录在光学薄膜的连续网上；以及(g)在将编码信息记录在光学薄膜的连续网上之后，将光学薄膜的连续网卷绕成辊以形成光学薄膜层压板的辊。14.如权利要求13所述的方法，其特征在于编码信息还包括用于标识偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域的信息。15.如权利要求13或14所述的方法，其特征在于形成光学薄膜的网的步骤包括另一步骤将具有粘贴表面的表面保护薄膜可剥离地层压在偏光合成薄膜上的与在其上通过粘贴层可剥离地层压有载体薄膜的表面相对的表面上。16.如权利要求13至15中任一项所述的方法，其特征在于编码信息被记录在载体薄膜上或者在表面保护薄膜上。17.如权利要求13至16中任一项所述的方法，其特征在于临时载体薄膜具有通过在使临时载体薄膜的一个表面经过脱模处理之后将包含粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面并且使该溶剂干燥而形成的可转印的粘贴层。18.如权利要求13至17中任一项所述的方法，其特征在于载体薄膜仅在以下的表面上经过脱模处理，通过该表面，载体薄膜被可剥离地层压在已经传送的、粘贴层处于暴露状态的偏光合成薄膜上。19.如权利要求13至18中任一项所述的方法，其特征在于检测缺陷的定位或坐标位置的步骤包括第一检查子步骤和第二检查子步骤，所述第一检查子步骤利用反射光主要检查偏光合成薄膜的无粘贴层的表面的部分，所述第二检查子步骤利用透射或正交尼科尔透射主要检查偏光合成薄膜的内部。20.如权利要求13至19中任一项所述的方法，其特征在于偏光合成薄膜具有与每个液晶面板的长边或短边相符合的宽度。21.—种生产用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层压板的辊的系统，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续网的传送方向的方向、以与连续网的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续网中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到所述多个液晶面板中对应的一个液晶面板的相对侧之一，其中该系统的特征在于包括(a)偏光合成薄膜形成单元，其包括用于将偏光器的连续层层压到保护薄膜上的层压机构，所述偏光合成薄膜形成单元被适配为将从保护薄膜的辊传送的保护薄膜层压在从连续的偏光器层的辊传送的偏光器的连续层的至少一个表面上，以便形成偏光合成薄膜；(b)偏光薄膜检查单元，其被适配为检查所形成的偏光合成薄膜的表面和内部，以便检测在偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置；(c)光学薄膜形成单元，其包括用于将偏光合成薄膜层压到载体薄膜上的层压机构，光学薄膜形成单元被适配为在检测到偏光合成薄膜中缺陷的定位或坐标位置之后，将从载体薄膜的辊传送的载体薄膜可剥离地层压在偏光合成薄膜上，以便形成光学薄膜的连续网；(d)信息处理设备，其被适配为基于偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置在所述偏光合成薄膜中定义有缺陷区域和无缺陷的正常区域，并且基于有缺陷区域和正常区域产生编码信息，所述编码信息包括指示通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续网中形成各个切口线的位置的切口位置信息；(e)信息记录单元，其被配置为以可由连续制造系统的读取单元读取的方式，将所产生的编码信息记录在光学薄膜的连续网上；(f)卷绕驱动机构，其被适配为在将编码信息记录在光学薄膜的连续网上之后，将光学薄膜的连续网卷绕成辊以形成光学薄膜层压板的辊；以及(g)控制单元，其被适配为以相互关联的方式控制至少偏光合成薄膜形成单元、偏光薄膜检查单元、光学薄膜形成单元、信息处理设备、信息记录单元、以及卷绕驱动机构的相应操作。22.如权利要求21所述的系统，其特征在于编码信息还包括用于标识偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域的信息。23.如权利要求21或22所述的系统，其特征在于光学薄膜形成单元进一步包括用于将偏光合成薄膜层压到表面保护薄膜上的层压机构，该层压机构被适配为将具有粘贴表面的表面保护薄膜可剥离地层压在偏光合成薄膜上的与在其上可剥离地层压有载体薄膜的表面相对的表面上。24.如权利要求21至23中任一项所述的系统，其特征在于编码信息被记录在载体薄膜上或者表面保护薄膜上。25.如权利要求21至24中任一项所述的系统，其特征在于偏光薄膜检查单元包括第一检查子单元和第二检查子单元，所述第一检查子单元被适配为利用反射光主要检查偏光合成薄膜的表面，所述第二检查子单元被适配为利用透射或正交尼科尔透射主要检查偏光合成薄膜的内部。26.如权利要求21至25中任一项所述的系统，其特征在于偏光合成薄膜具有与每个液晶面板的长边或短边相符合的宽度。27.—种生产用于液晶显示元件的连续制造系统的光学薄膜层压板的辊的系统，其中，连续制造系统至少包括读取单元、切口单元、去除单元以及层压单元，并且被适配为对于正在依序传送的多个液晶面板中的每一个液晶面板执行包括以下的过程沿横跨正在连续传送的光学薄膜的连续网的传送方向的方向、以与连续网的总厚度的一部分相对应的切口深度，在连续网中形成切口线，以便对应于多个依序传送的液晶面板；将在沿传送方向看上去的上游位置和下游位置处定义的两条径向相邻的切口线之间延伸的并且具有与该切口深度相对应的厚度的光学薄膜部分从光学薄膜的剩余部分中剥离，以便形成光学薄膜的薄片；并且将该薄片层压到所述多个液晶面板中对应的一个液晶面板的相对侧之一，其中该系统的特征在于包括(a)临时光学薄膜传送单元，其配备有临时光学薄膜层压板的辊并且被适配为从临时光学薄膜层压板的辊传送临时光学薄膜，所述临时光学薄膜包括偏光合成薄膜，该偏光合成薄膜包含由偏光器的连续层和层压在偏光器的连续层的至少一个表面上的保护薄膜构成的层压板、以及在该层压板的至少一个表面上提供的粘贴层，所述临时光学薄膜还包括层压在偏光合成薄膜的粘贴层上的临时载体薄膜；(b)临时载体薄膜除去单元，其被适配为通过从自预先提供的临时光学薄膜的辊供应的临时光学薄膜中卷绕出临时载体薄膜并且传送粘贴层处于暴露状态的偏光合成薄膜，来进行除去；(c)偏光薄膜检查单元，其被适配为检查已经提供的、粘贴层处于暴露状态的偏光合成薄膜的表面以及内部部分，以便检测在具有粘贴层的偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置；(d)光学薄膜形成单元，其包括用于将具有所述粘贴层的偏光合成薄膜层压在所述载体薄膜上的层压机构，所述层压机构为适配为通过粘贴层将自载体薄膜的辊供应的载体薄膜可剥离地层压到在其中已经检测到偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置并且具有粘贴层的所述偏光合成薄膜，以便形成光学薄膜的连续网；(e)信息处理设备，其被适配为基于检测到的在包括粘贴层的偏光合成薄膜中存在的缺陷的定位或坐标位置定义包括粘贴层的偏光合成薄膜中的有缺陷区域和正常区域，并且基于有缺陷区域和正常区域产生编码信息，所述编码信息包括指示通过连续制造系统的切口单元要在光学薄膜的连续网中形成各个切口线的位置的切口位置信息；(f)信息记录单元，其被适配为以可由连续制造系统的读取单元读取的方式，将所产生的编码信息记录在光学薄膜的连续网上；(g)卷绕驱动机构，其被适配为在将编码信息记录在光学薄膜的连续网上之后，将光学薄膜的连续网卷绕成辊以形成光学薄膜层压板的辊；以及(h)控制单元，其被适配为以相互关联的方式控制至少临时光学薄膜传送单元、临时载体薄膜除去单元、偏光薄膜检查单元、光学薄膜形成单元、信息处理设备、信息记录单元、以及卷绕驱动机构的相应操作。28.如权利要求27所述的系统，其特征在于编码信息还包括用于标识偏光合成薄膜的有缺陷区域和正常区域的信息。29.如权利要求27或28所述的系统，其特征在于光学薄膜形成单元还包括用于将表面保护薄膜层压在具有所述粘贴层的所述偏光合成薄膜上的层压机构，所述层压机构被适配为将具有粘贴表面的表面保护薄膜可剥离地层压在偏光合成薄膜上的与在其上可剥离地层压有所述载体薄膜的表面相对的表面上。30.如权利要求27至29中任一项所述的系统，其特征在于编码信息被记录在载体薄膜上或者表面保护薄膜上。31.如权利要求27至30中任一项所述的系统，其特征在于偏光薄膜检查单元包括第一检查子单元和第二检查子单元，所述第一检查子单元被适配为利用反射光主要检查具有粘贴层的偏光合成薄膜的表面，所述第二检查子单元被适配为利用透射或正交尼科尔透射主要检查具有粘贴层的偏光合成薄膜的内部。32.如权利要求27至31中任一项所述的系统，其特征在于偏光合成薄膜具有与每个液晶面板的长边或短边相符合的宽度。全文摘要为了提供用于在液晶显示元件制造中提高精度和增加速度并且在成品率方面获得显著提升的光学薄膜层积体卷筒。光学薄膜层积体卷筒用于连续生产液晶显示元件的装置。光学薄膜包括偏光薄膜，其包括由连续偏光器层和叠加在连续偏光器层的一侧上的保护薄膜组成的层压板、以及布置在该层压板的一侧上的压敏粘贴层；以及以可自由剥离的状态叠加在偏光薄膜的压敏粘贴层上的载体薄膜。在偏光薄膜中，已经基于所检测的缺陷的位置定义了有缺陷区域和正常区域，根据偏光薄膜的有缺陷区域和正常区域，已经将包括指定要利用连续生产装置的刀具在连续光学薄膜带状体中形成切口线的位置的切口位置信息的编码信息记录在连续带状体上。构成编码信息使得可以由连续生产装置的读取器读取。文档编号G02F1/13GK101925846SQ20088010733公开日2010年12月22日申请日期2008年12月17日优先权日2008年4月15日发明者中园拓矢,北田和生,小盐智,山野隆义,岛江文人,木村功儿,由良友和申请人:日东电工株式会社