测定冲击试样缺口显微镜的制作方法

专利名称：测定冲击试样缺口显微镜的制作方法
技术领域：
本实用新型提供一种测定冲击试样缺口显微镜属于光学测量仪器。
用冲击试验机测定金属或非金属材料的抗冲击性能，要依据国家或国际标准加工冲击试样缺口，其冲击试样缺口主要分两大种一种为V型，另一种为U型。由于冲击试样缺口较小、尺寸公差要求较高而形成加工出的缺口尺寸符合标准比较困难。如加工出的缺口尺寸超出了标准规定范围，必然使冲击试验数据失去真实可靠性，特别对压力容器生产厂更加重要，所以说冲击试样缺口尺寸是反映冲击试验数据能否真实可靠的重要指标。
目前国内尚未有测定冲击试样缺口的专用仪器。有少数大型企业利用长度光学仪器对缺口进行部分测量，其缺口顶端半径的测定还是困难。大多数拥有冲击试验机的企业或单位只能用眼睛代替仪器测量。
本实用新型提供一种快速、准确的确定冲击试样缺口是否合格的测定冲击试样缺口显微镜。其显微镜由镜头部分、镜头支承部分、比对测定调距部分组合构成。其主要特征在于，一、镜头部分制作具有冲击试样缺口尺寸公差带的上分划板并和其它部件组合构成的显微镜镜头，其镜头在受支承时可圆周转动并与底座孔同轴。二、镜头支承部分底座与立柱相固结，立柱悬端与悬臂一端相固结，其悬臂另一端与镜头嵌装配合，底座孔与镜头轴线同轴。
三、比对测定调距部分丝杠上端径向嵌装固结一圆环呈现圆柱状并且中部开口，由一螺杆通过圆环至开口与装入开口内的另一构件下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆时另一构件 承载其上冲击试样沿转动轴线移动；另一构件上端与丝杠的上端形状相同，由另一螺杆通过圆环至开口与装入口内的平台下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆时平台承载冲击试样沿转动轴线移动，当转动圆转平台时可使冲击试样圆周转动，当转动手轮时可使冲击试样升降。上下两个螺杆轴线相互垂直，由手轮、两个螺杆圆转平台的转动形成了具有多位移比对测定调距构造。
上分划板的缺口尺寸公差带比对图形以如下方式构成有两个V型，有一个小U型和一个大U型，有一双半径圆孤线，有一条缺口尺寸公差带平分线。镜头光学系统由目镜、场镜、上分划板、下分划板、物镜所组成。
本实用新型为从事冲击试验的人员提供了一种快速、准确的确定冲击试验缺口是否合格的专用仪器。能够比对测定五种缺口尺寸的冲击试样，用之可较大的提高冲击试验数据的真实可靠性，确保产品质量。
附图给出了本实用新型的实施例


图1为上分划板平面图。图2为镜头光学系统图。图3为冲击试样位置俯视图。图4为本显微镜主视图。图5为图4的右视图。图4和图5中(含部分全剖视)。
下面参照附图详细描述，参见
图1，图中由V型缺口其夹角45度±2度(A)、V型缺口其夹角45度±1度(B)、V型缺口其夹角45度±1度顶端半径小于(B)范围以一双半径圆孤线(E、F)、U型缺口其小深度(C)、U型缺口其大深度(D)、一条公差带平分线(G)，以及保留有0～7毫米数字和线段。上述缺口都是以自身的尺寸公差带所确定的比对范围。如(A)V型缺口其夹角45度±2度顶端半径为0.25±0.025毫米，即最大夹角47度最小夹角43度，顶端半径最大0.275毫米最小0.025毫米，根据试样尺寸确定最大深度2.1毫米最小深度1.9毫米。再如(E、F)一双半径圆孤线，适用于对特殊非金属材料冲击试样缺口顶端半径的比对，即聚苯乙稀冲击试样V型缺口其夹角45度±1度落入(B)公差带范围内不是完全合格，还要将顶端半径与(E)最大半径和(F)最小半径分别相比对，当顶端半径小于或等于(E)大于或等于(F)的同时才是完全合格的冲击试样(3)。保留0～7毫米数字和线段适用于对缺口在深度上超差实施实际测量。
图1、上分划板在显微镜头(7)内所处位置参见图2。图2中上分划板(4)、下分划板(5)。本实用新型所采用的镜头(7)是市售20倍读数显微镜头，只是制作
图1样式的上分划板(4)，并装入镜头(7)内原上分划板(4)位置上形成了一个主要用于测定冲击试样(3)缺口并可进行其它测量的多用途镜头(7)。冲击试样(3)在圆转平台(2)上所处位置参见图3。图中平台(1)、圆转平台(2)、冲击试样(3)、螺杆(4)、螺杆(5)。冲击试样(3)靠于定位块并被压住，镜头支承部分参见图4和图5由底座(10)与立柱(11)相垂直固结，立柱(11)悬端与悬臂(12)一端相垂直嵌装固结，其悬臂(12)另一端与镜头(7)嵌装配合，底座(10)嵌装丝杠(9)的孔与镜头(7)轴线同轴。比对测定调距部分参见图4和图5。由丝杠(9)上端径向嵌装固结一个圆环(13)后呈现圆柱形状并且中部开口、由螺杆(4)通过圆环(13)至开口与装入开口内的另一构件(14)下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆(4)时另一构件(14)承载其上冲击试样(3)沿转动轴线移动。另一构件(14)上端与丝杠(9)的上端形状构造相同，由螺杆(5)通过圆环(13)至开口与装入开口内的平台(1)下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆(5)时平台(1)承载冲击试样(3)沿转动轴线移动，当转动圆转平台(2)时可使冲击试样(3)圆周转动，当转动手轮(6)时可使冲击试样(3)升降。本实用新型为国内拥有几万台金属或非金属材料冲击试验机进行材料冲击试验提供了试样检测手段，并能够快速准确比对测定五种缺口的冲击试样。仍适用于对布氏硬度和维氏硬度的压痕以及其它测量，具有结构简单、体积小、制造容易和成本低等优点。
权利要求1.一种测定冲击试样缺口显微镜，用于快速、准确地确定冲击试样缺口是否合格，由镜头部分、镜头支承部分和比对测定调距部分构成，其特征在于a，所述镜头(7)部分，由制作具有冲击试样(3)缺口尺寸公差带的上分划板(4)和其它部件组合构成；b，所述镜头(7)支承部分，以底座(10)与立柱(11)相固结，立柱(11)悬端与悬臂(12)一端相固结，其悬臂(12)另一端与镜头(7)嵌装配合，底座(10)孔与镜头(7)轴线同轴；c，所述比对测定调距部分，丝杠(9)上端径向嵌装固结一个圆环(13)呈现圆柱状并且中部开口，由螺杆(4)通过圆环(13)至开口与装入开口内的另一构件(14)下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆(4)时另一构件(14)承载其上冲击试样(3)沿转动轴线移动。另一构件(14)上端与丝杠(9)的上端形状构造相同，由螺杆(5)通过圆环(13)至开口与装入开口内的平台(1)下端轴颈以螺纹方式配合，当转动螺杆(5)时平台(1)承载冲击试样(3)圆周转动，当转动手轮(6)时可使冲击试样(3)升降。
专利摘要本实用新型提供一种快速准确地确定冲击试样缺口尺寸是否符合国家标准的测定冲击试样缺口显微镜。属于光学测量仪器，其特征是，在镜头部分中制作装入能够比对测定五种冲击试样缺口尺寸的尺寸公差带上分划板。镜头支承部分由底座、立柱和悬臂固结组合构成，比对测定调距部分由转动丝杠手轮、转动两个螺杆、转动平台实现，本新型解决了长期存在的测定冲击试样缺口尺寸的困难，使用之可较大地提高材料抗冲击性能试验数据的真实可靠性。
文档编号G02B21/32GK2089171SQ9120207
公开日1991年11月20日 申请日期1991年2月2日 优先权日1991年2月2日
发明者牟艳旗, 程佐玉 申请人:程佐玉, 牟艳旗