液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法

专利名称：液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法
液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法
技术领域：
本发明属于液晶显示器领域，尤其涉及一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法。背景技术：
丝印网痕是指密封框胶丝印过程中丝印网版的网纱交结点压伤定向层而形成的 定向不良痕迹，以下简称丝印网痕。液晶显示器件具有低电压、低功耗、重量轻、体积薄、信息容量大、无辐射、无污染 等特点，已经被广泛应用于手机、数码产品等各种显示终端中，要实现液晶显示器件的高 质量画面，要求在摩擦定向处理后不能对定向层有任何的破坏，而液晶显示器的密封框胶 一般是通过丝网印刷来实现的，在印刷过程中丝印网版一定会与定向层接触，稍控制不好 就会造成丝印网版的网纱交结点压伤定向层，由于定向层遭到破坏，从而影响液晶分子的 定向排列及预倾角，从而出现不同程度、不同形状的显示不良。尤其是彩色超扭曲向列型 (Color Super Twisted Nematic，简称CSTN)液晶显示器产品，都是负性显示的产品，画面 质量要求高，稍有定向不良就会影响显示画面质量。因此，如何在线检测是否有丝印网痕显 的尤为重要，而在现有液晶显示器的制造行业中，还没有专门的在线检测丝印网痕的仪器 或方法。这在液晶显示器的生产制程中是非常可怕的事情，因为一旦出现丝印网痕而又不 能及时发现和管控，其后果往往是大批量的报废，损失非常惨重。

发明内容本发明所要解决的技术问题是提供一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法， 解决现有液晶显示器制造中无法在线检测丝印网痕的问题。本发明是通过以下技术方案实现的一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其中包括以下步骤A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大 系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。在本发明中，通过丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶，液晶 分子则会按照定向层摩擦的方向进行排列和旋转，如果定向层上的摩擦定向被破坏或者细 微的定向不良，根据液晶的双折射特性，那么被破坏或者定向不良处的透光效果就与其它 区域不一样，通过带有偏光系统的光学放大系统就可以观察到此透光的差异，以此来实现 在线检测丝印网痕。同时，本发明在线检测方法操作简单，发现及时，可以广泛应用于液晶 显示器的制造中，特别是CSTN型液晶显示器的制造中。本发明的特征及优点将通过实施例进行详细说明。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于 限定本发明。一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其中包括以下步骤A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大 系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。根据现有液晶显示器的制造流程和从本发明的实际出发，所述待检测丝印网痕的 基板是指在密封框胶丝印过后所形成的基板，即在丝印密封框胶之前，所述基板已经过定 向层印刷、固化以及摩擦定向处理，所述基板通常为玻璃基板，当然根据实际需要，也可以 采用其它的软性或者柔性基板。进一步，所述玻璃基板可以是液晶显示器中的彩膜(CF)玻 璃基板或者像素(IT0)玻璃基板。在密封框胶丝印过程中，丝印网版一定会与定向层接触， 稍控制不好就会造成丝印网版的网纱交结点压伤定向层，丝网网纱交接点压伤的实际上只 是定向层摩擦定向的沟槽，因此，待检测的基板必须经过定向层印刷、固化以及摩擦定向处 理。为了便于理解丝印网痕的形成，本发明所述的丝印网版在网纱交结点处有两层网 纱相交，因此在相交处一般都会突出一些，所以在丝印密封框胶的过程中，突出的这部分 即网纱交结点很容易压伤定向层，形成丝印网痕。此外，在绷网丝网制作时，一般都是22 度-30度的角度，此角度是指丝网中纱线与水平方向所成的夹角。在步骤A中，所述涂覆一层液晶是用光滑的玻璃片将直接滴在玻璃上的液晶涂 布在基板的定向层上。具体地，先在需要检测丝印网痕的区域用滴管滴一小滴液晶，约 0. 05-0. 10毫升的量，然后用光滑的玻璃片轻轻将液晶往一个方向刮动，这样就在待检测丝 印网痕的区域形成了一个薄的液晶层。进一步，所述涂覆液晶层的厚度在5um-50um之间，因为此厚度在观察系统中看到 的液晶是完全透明的，以看不到明显的液晶连线及液晶流动为宜。如果液晶层大于50um，或 者是液晶层太厚，容易形成液晶流动以及较多的液晶连线；如果液晶小于5um，或者是液晶 层太薄，容易形成干涉彩色，这样都不利于对液晶层的观察和丝印网痕的检测。在步骤A中，所述液晶是介电系数异方性为正型的螺旋扭曲向列型液晶，该 向列型液晶可以是单支液晶或者混配的液晶，比如单支液晶可以是115C-1000-000、 115C-1000-100、115C-1100-000、115C-1100-100中的任意一种，混配液晶可以是这四支液 晶任意比例配比的液晶。进一步，所述液晶可以是被污染的液晶。所述被污染的液晶并不会影响丝印网痕 的观察效果，这里所说的污染是指液晶在灌注生产过程中有一些异物或杂质等落入到液晶 中，造成了污染不能用于液晶显示器制造中的灌注生产，其液晶的电阻率会有所下降，但其 双折射率没有明显变化，因此不会影响使用。所以，此处所说的污染并不是指其他的特别污 染，这样可以持续使用报废液晶，节约成本，避免浪费，操作简单方便。所述液晶的双折射率没有特别要求，优选地，液晶的双折射率在0. 14-0. 16之间。在步骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统的放大倍数在200倍以上，因为光 学系统的放大倍数需要在200倍以上才能观察清晰，一般使用400倍来观察。带有偏光系 统的光学放大系统可以是偏光显微镜、激光修复机等其它带有偏光系统的检测器件。
在步骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统具有反射光源和透射光源，反射 光源和透射光源的亮度可调节，所述反射光源的亮度为80-220LUX，所述透射光源的亮度为 0-10LUX。使用时，反射亮度一般调到100LUX左右，如能看到彩膜(CF)玻璃基板面上的细 小颗粒状即CF表面能看到粗燥感为最佳。根据本发明的在线检测方法，观察到具有丝印网 痕之处的透光效果与其它区域不一样，通过带有偏光系统的光学放大系统就可以观察到此 透光的差异，网痕处颜色比其它区域稍偏深，且有凹下去的感觉，网痕形状类似，但大小可 能不尽相同，呈斑点状分布，似雪地上的猫爪痕迹，且位置排列有一定的规律性，都与网版 的网纱角度一致，网痕间隔大约60-120微米，与网版网纱线的交织点间距一致，比如使用 100目数、40微米线粗的网纱(线粗40微米，网孔50微米)网痕的距离大约是90-100微 米。当发现有丝印网痕存在时，就需要对制程工艺作出调整，比如可以通过调小丝印过程中 刮刀的压力，或者刮刀的限位，或者丝印网版与基板的距离，或者更换丝印网版等方法来解 决。在本发明中，通过丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶，液晶 分子则会按照定向层摩擦的方向进行排列和旋转，如果定向层上的摩擦定向被破坏或者细 微的定向不良，根据液晶的双折射特性，那么被破坏或者定向不良处的透光效果就与其它 区域不一样，通过带有偏光系统的光学放大系统就可以观察到此透光的差异，以此来实现 在线检测丝印网痕。同时，本发明在线检测方法操作简单，发现及时，可以广泛应用于液晶 显示器的制造中，特别是CSTN型液晶显示器的制造中。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，包括以下步骤A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步 骤A中，所述涂覆一层液晶是用光滑的玻璃片将直接滴在玻璃上的液晶涂布在基板的定向 层上。
3.根据权利要求2所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述 涂覆液晶层的厚度在5um-50um之间。
4.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步 骤A中，所述液晶是介电系数异方性为正型的螺旋扭曲向列型液晶。
5.根据权利要求4所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述 液晶可以是被污染的液晶。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特 征在于，所述液晶的双折射率在0. 14-0. 16之间。
7.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步 骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统的放大倍数在200倍以上。
8.根据权利要求7所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述 带有偏光系统的光学放大系统为偏光显微镜或者激光修复机。
9.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步 骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统具有反射光源和透射光源，反射光源和透射光 源的亮度可调节。
10.根据权利要求9所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述 反射光源的亮度为80-220LUX，所述透射光源的亮度为0-10LUX。
全文摘要
本发明公开一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其中包括以下步骤A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。本发明通过丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶，液晶分子则会按照定向层摩擦的方向进行排列和旋转，如果定向层上的摩擦定向被破坏或者细微的定向不良，根据液晶的双折射特性，那么被破坏或者定向不良处的透光效果就与其它区域不一样，通过带有偏光系统的光学放大系统就可以观察到此透光的差异，以此来实现在线检测丝印网痕。
文档编号G02F1/139GK101846819SQ200910106440
公开日2010年9月29日 申请日期2009年3月27日 优先权日2009年3月27日
发明者李卫凤, 高明 申请人:比亚迪股份有限公司